Микроскопы электронные ZepTools
| Каталожный номер | Цена без НДС | Срок поставки | |
|---|---|---|---|
| 1-20000 | по запросу | под заказ |
Микроскоп электронный сканирующий ZEM30 напольный, термоэмиссионный, вольфрамовый катод, ZepTools, 1-20000
Микроскоп электронный сканирующий ZEM30 напольный, термоэмиссионный, вольфрамовый катод, Zeptools - это прибор для получения изображений структуры образцов путем сканирования пучком электронов в вакууме.
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) ZEM30 разработан для лабораторий, которым требуется стабильно высокое качество изображений и гибкость в решении разноплановых задач - от рутинного контроля качества до углублённых научных исследований. Прибор сочетает технологии визуализации, надёжную вакуумную архитектуру и масштабируемую конфигурацию, что делает его оптимальным выбором для материаловедения, нанотехнологий, биомедицинских исследований, полупроводниковой индустрии и промышленного контроля.
Возможности:
- Высокая детализация и контрастность изображений
- Модульная конструкция колонны обеспечивает надежность и удобство монтажа
- Точная навигация
- Удобство эксплуатации
Технические характеристики:
| Электронная пушка | Прецентрированный вольфрамовый катод | |
| Разрешение, нм | Высокий вакуум | 3 при 30 кВ (SE) |
| Увеличение, крат | 25-360,000 (негативное увеличение) | |
| Ускоряющее напряжение, кВ | 3 ~ 30 | |
| Детекторы | Эверхарт-Торнли (ETD) | |
| обратно-рассеянных электронов (BSED) вторичных электронов для режима низкого вакуума, EDS, и др. | ||
| Формат изображений | TIFF, JPG, BMP, PNG | |
| Вакуумный режим, Па | Высокий вакуум | Лучше чем 5×10-4 |
| Камера | Навигационная камера | |
| Столик образцов | 3-ти осевой автоматический | |
| Диапазон перемещений, мм | X:150 | |
| Y:130 | ||
| Z: 80 | ||
Комплектация:
- Микроскоп электронный сканирующий ZEM30 напольный
- Детектор вторичных электроннов (SE)
- Управляющий ПК на базе Windows
- Стол оператора
- Набор расходных материалов и запасных катодов (6 штук)
Аксессуары:
- Панель оператора
- Температурные столики и столики для механических испытаний
- Дополнительный комплект ПО (сшивка панорамных изображений, анализ частиц и пор, постобработка на оффлайн ПК)
Документация:
- Инструкция по применению
- Паспорт
