Калибровочные образцы для СЭМ (SEM) и ПЭМ (TEM)
| Каталожный номер | Цена без НДС | Срок поставки | |
|---|---|---|---|
| 1-19301 | 54 159 ₽ | 8-10 нед. |
Образец для калибровки монокристалла кремния, 1-19301
Образец для калибровки монокристалла кремния используется для коррекции увеличения SEM и LM при искажении изображения.
При размере 5 мм × 5 мм кристалл типа 675 мкм был легирован 100 кристаллами на поверхность монокристаллического кремния с помощью технологии воздействия электронным лучом и травления, чтобы сформировать квадратный сетчатый рисунок размером 10 мкм. Глубина сетки составляет 300 нм, а ширина линий между сетками — 1,9 мкм. Для облегчения обнаружения LM имеется немного более широкая разделительная линия через каждые 500 мкм.