Микроскопы электронные Himera сканирующие (СЭМ, SEM) напольные
| Розничная цена без НДС | Оптовая цена без НДС | Срок поставки | |
|---|---|---|---|
| по запросу | по запросу | под заказ |
Микроскоп электронный сканирующий Himera EM40Pro, катод Шоттки, напольный
Микроскоп электронный сканирующий Himera EM40Pro, катод Шоттки, напольный разработан для работы с аналитическими приставками. Электронная колонна имеет трехступенчатую конструкцию конденсора позволяет получать токи 200нА, что обеспечивает преимущества в EDS, WDS, EBSD анализе. EM40Pro может оснащаться опцией низкого вакуума с низковакуумным детектором вторичных электронов для работы с плохо проводящими образцами, биологическими образцами. Программное обеспечение электронного микроскопа Dr.Focal EM40Pro имеет интуитивно понятный интерфейс и опцию оптической навигации, что позволяет работать на нем даже начинающим пользователям.
Технические характеристики:
|
Разрешение |
Высокий вакуум |
0,9 нм при 30 кВ (SE) |
|
Низкий вакуум |
2,5 нм при 30 кВ (BSE), 30 Па 1,5 нм при 30 кВ (SE), 30 Па | |
|
Увеличение |
1-1 000 000x | |
|
Ускоряющее напряжение |
200 В ~ 30 кВ | |
|
Детекторы |
Эверхарт-Торнли (ETD) Детектор для работы в режиме низкого вакуума (LVD) Детектор обратно-рассеянных электронов (BSED) | |
|
Опционально: STEM, EDS, EBSD, шлюз, трэкбол и панель управления основными настройками и др. | ||
|
Низкий вакуум |
180 Па | |
|
Управление |
Полностью автоматическое | |
|
Камера |
Навигационная камера | |
|
ИК-камера | ||
|
Столик образцов |
5-ти осевой автоматический | |
|
Диапазон перемещений |
X: 110 мм | |
|
Y: 110 мм | ||
|
Z: 65 мм | ||
|
R: 360° | ||
|
T: -10° ~ +70° | ||
Вы можете купить микроскоп электронный сканирующий Himera EM40Pro, катод Шоттки, напольный в Москве в компании Лабтех по наименьшей цене.