Микроскопы электронные сканирующие Himera
| Цена без НДС | Срок поставки | |
|---|---|---|
| по запросу | под заказ |
Микроскоп электронный сканирующий EM50Pro, напольный, катод Шоттки, Himera
Микроскоп электронный сканирующий EM40X, напольный, катод Шоттки, Himera - это прибор для получения изображений c высоким разрешением за счет сканирования электронным пучком.
Сканирующий электронный микроскоп Himera ЕМ40X имеет архитектуру колонны от старшей линейки, что позволяет получать изображения с высоким разрешением при низких ускоряющих напряжениях на чувствительных к пучку образцах, при этом стоимость данной системы является минимальной в линейке микроскопов с катодами Шоттки.
Возможности:
- подходит для различных исследований в области науки, медицины, инженерии и других отраслей
- интуитивно понятный пользовательский интерфейс с множеством автоматических функций (автофокус, автоярскость/контраст, автостигматор, пост. обработка ИИ)
- внутрилинзовые детекторы
- опция торможения пучка электронов
Технические характеристики:
| Разрешение, нм | 0,7 при 15 кВ (SE) 1,1 при 1 кВ (SE) |
| Увеличение, крат | 1-2 500 000 |
| Ускоряющее напряжение, кВ | 0,02 ~ 30 |
| Детекторы | Эверхарт-Торнли (ETD) Внутрилинзовый Inlense SE детектор вторичных электронов |
| Опционально: Детектор обратно-рассеянных электронов (BSED), STEM детектор для работы на «просвет», EDS, EBSD, EBIC, CL, EBL, Beam Blanker | |
| Вакуумная система | Полностью автоматическая, безмасляная |
| Камера | Навигационная камера |
| ИК-камера | |
| Столик образцов | 5-ти осевой автоматический |
| Диапазон перемещений, мм | X: 110 |
| Y: 110 | |
| Z: 65 | |
| R: 360° | |
| T: -10° ~ +90° |
Комплектация:
- Микроскоп электронный сканирующий EM40X
- Детектор вторичных электроннов (SE)
- Внутрилинзовый детектор, поддерживающий работу в режиме регистрации вторичных электронов (выше 10 кВ) и обратно-рассеянных (ниже 10 кВ)
- Управляющий ПК на базе Windows
- Стол оператора
- Набор расходных материалов
- Чиллер водяного охлаждения
Аксессуары:
- Панель оператора - Трекбол - Шлюз для быстрой смены образцов - Температурные столики и столики для механических испытаний - Дополнительный комплект ПО (сшивка панорамных изображений, анализ частиц и пор, постобработка на оффлайн ПК) - Активная антивибрационная подвеска колонны - Антивибрационная платформа - Система защиты от электромагнитных полей
Документация:
- Инструкция по применению
- Паспорт
- Описание типа средства измерения
- Методика поверки
Сертификация:
Прибор внесен в Государственный реестр средств измерений
Госреестр СИ РФ №94689-25
Вы можете купить Микроскоп электронный сканирующий EM50Pro, напольный, катод Шоттки, Himera в Москве в компании Лабтех по наименьшей цене.
