Микроскопы электронные сканирующие Himera
| Цена без НДС | Срок поставки | |
|---|---|---|
| по запросу | под заказ |
Микроскоп электронный сканирующий Himera DB55, двухлучевой, напольный, катод Шоттки, Himera
Микроскоп электронный сканирующий Himera DB55, двухлучевой, напольный, катод Шоттки, Himera - это прибор позволяющий получать изображения с высоким разрешением, с помощью электронной колонны, а также готовить образцы с помощью сфокусированного ионного пучка FIB SEM. Позволяет проводить наноанализ и пробоподготовку одновременно. Усовершенствованная технология туннелирования электронного пучка (SuperTunnel) и конструкции объективных линз свободная от магнитных полей позволяет получать нанометровое разрешение при низких ускоряющих напряжениях. Ионная колонна со стабильным жидким Ga+ источником позволяет подготавливать качественные кросс- секции и образцы для исследования в трансмиссионном электронном микроскопе ТЭМ. Большое количество внешних портов для подключения аналитических приставок, микроманипуляторов, системы подачи газа, системы анти-контаминации делают прибор незаменимым для самых продвинутых исследовательских задач.
Возможности:
- подходит для продвинутых исследований в области науки, медицины, инженерии и других отраслей
- интуитивно понятный пользовательский интерфейс с множеством автоматических функций (автофокус, автоярскость/контраст, автостигматор, пост. обработка ИИ)
- комбинированная электростатическая и электромагнитная объективная линза, без кроссовера внутри колонны с одним конденсором, с технологией SuperTunnel
- активная антивибрационная подвеска колонны, а также функция торможения пучка столиком и специальная архитектура колонны с двойным конденсором позволяет анализировать сложные образцы при ускоряющем напряжении 1 кВ с высоким разрешением
Технические характеристики:
| Разрешение электронной колонны, нм | 0,7 при 15 кВ 1,2 при 1 кВ |
| Разрешение ионной колонны, нм | 2,5 при 30 кВ 1,0 при 1 кВ |
| Ускоряющее напряжение электронной колонны, кВ | 0,02 — 30 |
| Ускоряющее напряжение ионной колонны, кВ | 0,5 — 30 |
| Максимальный ток зонда, нА | 20 |
| Детекторы | Эверхарт-Торнли (ETD) Внутрилинзовый Inlense SE детектор вторичных электронов |
| Опционально: Детектор обратно-рассеянных электронов (BSED), детектор обратно-рассеянных электронов внутрилинзовый, STEM детектор для работы на «просвет», EDS, EBSD | |
| Вакуумная система | Полностью автоматическая, безмасляная |
| Камера | Навигационная камера |
| ИК-камера — 2 шт. | |
| ПО | Автоматическая яркость/контраст, автофокус, автостигматор |
| Столик образцов | 5-ти осевой эвцентрический |
| Диапазон перемещений, мм | X: 110 |
| Y: 110 | |
| Z: 65 | |
| R: 360° | |
| T: -15° ~ +70° |
Комплектация:
- Микроскоп электронный сканирующий Himera DB55
- Детектор вторичных электроннов (SE)
- Внутрилинзовый Inlense SE детектор вторичных электронов, поддерживающий регистрацию вторичных и обратно-рассеянных электронов
- Ионная колонна Ga+, с ресурсом до 1500 часов
- Управляющий ПК на базе Windows
- Стол оператора
- Набор расходных материалов
- Чиллер охлаждения
- Активная антивибрационная подвеска колонны
- Режим торможения пучка столиком
- Держатель 45/90° 2 шт
Аксессуары:
- Панель оператора
- Трекбол
- Шлюз для быстрой смены образцов
- Температурные столики и столики для механических испытаний
- Дополнительный комплект ПО (сшивка панорамных изображений, анализ частиц и пор, постобработка на оффлайн ПК)
- Наноманипуляторы 3х или 4х осевые
- Система газовой инъекции (GIS)
Документация:
- Инструкция по применению
- Паспорт
- Описание типа средства измерения
- Методика поверки
Сертификация:
Прибор внесен в Государственный реестр средств измерений
Госреестр СИ РФ №94689-25
Вы можете купить Микроскоп электронный сканирующий Himera DB55, двухлучевой, напольный, катод Шоттки, Himera в Москве в компании Лабтех по наименьшей цене.
