Микроскоп атомно-силовой
| Цена без НДС | Срок поставки | |
|---|---|---|
| по запросу | под заказ |
Микроскоп атомно-силовой сканирующий зондовый, Brisk
Атомно-силовой микроскоп Brisk способен анализировать разнообразные характеристики образца в наномасштабе, а также выполнять функции наноманипулятора и проводить нанолитографию.
Консоль микронного размера (кантилевер) имеет на конце очень острый зонд-иголку. Острие зонда подводится на очень близкое к поверхности образца нанометровое расстояние. Когда зонд движется вдоль поверхности образца, Ван-дер-Ваальсовы силы межатомного взаимодействия между кончиком зонда и поверхностью образца меняются, что приводит к вертикальным по оси Z смещениям кантилевера, которые в свою очередь регистрируются оптическим методом. Отраженный от обратной стороны кантилевера луч лазера попадает на четырёхсекционный фотодиод. Отклонения от секций фотодиода соотносятся с вертикальными перемещениями кантилевера, которые в свою очередь отражают топографию поверхности образца.
Возможности:
- Процедура визуализации АСМ Brisk упрощена - управление BRISK интуитивно-понятное, а время формирования изображения сокращено, что делает его удобным в эксплуатации.
- Зонд можно быстро и надежно зафиксировать в измерительной головке.
- Оптическая навигация позволяет делать выбор области сканирования.
- Новейшая электроника: улучшенная работа контроллера за счет использования передовой электроники.
- Интерфейс LAN: данные передаются между микроскопом и компьютером по единому сетевому кабелю.
- Быстрый подвод зонда к образцу.
Технические характеристики:
| Сканер: XY Сканер: - Максимальный диапазон сканирования в плоскости XY 50 мкм - Разрешение в плоскости XY: 1 нм Z Сканер: - Максимальный диапазон сканирования по оси Z: 4 мкм - Разрешение по оси Z: 0.1 нм | Электроника: АЦП и ЦАП каналы: - 4-х канальный АЦП 24 бит - 4-х канальный ЦАП 24 бит Обработка сигналов - Zynq-процессор 40 МГц Встроенные функции: - 100 МБит/с по LAN |
| Столик образцов: - Диапазон перемещений в плоскости XY: 15 мм - Шаг перемещения в плоскости XY 40 нм - Диапазон перемещения по оси Z: 15 мм - Шаг перемещения по оси Z: 40 нм - Функция автоматического подвода кантилевера к поверхности образца (Auto Fast Approach) | Программное обеспечение: Получение изображений: - 100 Мбит/с в режиме реального времени, совместимость с Windows - Встроенные оптические смотровые окна для обзора образца и кантилевера - Автоматическое сохранение полученных изображений в галерее программного обеспечения - Сканирование выделенной области уже собранного изображения Работа с изображениями: - Отдельная программа для обработки изображений, анализа и представления данных - Возможность экспорта различных данных с полученных изображений - Совместимость с ОС Windows |
| Крепление образца: - Максимальный диаметр образца: 20 мм - Максимальная толщина образца: ю мм - Имеется лёгкий магнитный держатель образца - Возможность подачи напряжения на образец в диапазоне от -10 В до + ю В | |
| Оптическая система навигации: - Цветное изображение, разрешение 8 Мп - Увеличение от 60 крат до 600 крат - Встроенная подсветка с регулятором | Управляющая станция: - Core i5-72OOU CPU - 8 Гб DDR4 RAM - Монитор с диагональю 21 дюйм. 1920 х 1080 пике |
| Измерительная головка: - Высокоточный регулируемый микрометр - Длина волны лазера: 670 нм - Максимальная мощность лазерного диода 5 мВт - 4-х секционный фотодиод высокого качества - Функция дизеринга - Оптимизированная оптическая схема | Габариты и вес АСМ-модуля: - 300 мм х 400 мм х 300 мм. 20 кг |
| Аксессуары: - Набор для крепления образца - Подложка для образца - Различные типы кантилеверов | Опции: XY Сканер: - Расширенный диапазон сканирования 100 um Набор для замены зондов: - Вакуумный пинцет |
| Стандартные моды: | |
| Контактная, бесконтактная, динамическая полуконтактная (Tapping) | |
| Функциональные комплекты: | |
| Fly Kit | - Магнитно-силовая микроскопия (MFM) - Электростатическая силовая микроскопия (EFM) - Фазовый контраст |
| Pro Contact Kit | - Метод латеральных сил (LFM) - Силовая спектроскопия - Механическая нанолитография |
| Experts Kit | - Химическая нанолитография - Метод Модуляции Силы (FMM) - Проводящая атомно-силовая микроскопия (C-AFM) - Микроскопия зонда Кельвина (KPFM) |
Вы можете купить Микроскоп атомно-силовой сканирующий зондовый, Brisk в Москве в компании Лабтех по наименьшей цене.
