Микроскопы Brisk
| Цена без НДС | Срок поставки | |
|---|---|---|
| по запросу | под заказ |
Микроскоп атомно-силовой сканирующий зондовый, Brisk
Микроскоп атомно-силовой сканирующий зондовый, Brisk - это прибор, позволяющий получать изображения и свойства образца за счет контакта острого зонда (кантилевера) поверхности.
Микроскоп способен анализировать разнообразные характеристики образца в наномасштабе, а также выполнять функции наноманипулятора и проводить нанолитографию. Упругая консоль микронного размера (кантилевер) имеет на конце очень острый зонд «иголку». Острие зонда, характерный размер которого у большинства коммерческих кантилеверов не более 10 нм, подводится на очень близкое к поверхности образца нанометровое расстояние. Когда зонд движется вдоль поверхности образца, Ван-дер-Ваальсовы силы межатомного взаимодействия между кончиком зонда и поверхностью образца меняются, что приводит к вертикальным по оси Z смещениям кантилевера, которые в свою очередь регистрируются оптическим методом. Отраженный от обратной стороны кантилевера луч лазера попадает на четырёх-секционный фотодиод. Отклонения от секций фотодиода соотносятся с вертикальными перемещениями кантилевера, которые в свою очередь отражают топографию поверхности образца.
Возможности:
- Процедура визуализации АСМ Brisk упрощена: управление BRISK интуитивно-понятное, а время формирования изображения сокращено, что делает его удобным в эксплуатации
- Зонд можно быстро и надежно зафиксировать в измерительной головке
- Оптическая навигация позволяет делать выбор области сканирования
- Новейшая электроника: улучшенная работа контроллера за счет использования передовой электроники
- Интерфейс LAN: данные передаются между микроскопом и компьютером по единому сетевому кабелю
- Быстрый подвод зонда к образцу
Технические характеристики:
| Сканер | |
| Максимальный диапазон сканирования в плоскости XY, мкм | 50 |
| Разрешение в плоскости XY, нм | 1 |
| Максимальный диапазон сканирования по оси Z, мкм | 4 |
| Разрешение по оси Z, нм | 1 |
| Электроника | |
| АЦП и ЦАП каналы | 4-х канальный АЦП, 24 бит - 4-х канальный ЦАП, 24 бит |
| Столик образцов | |
| Диапазон перемещений в плоскости XY, мм | 15 |
| Шаг перемещения в плоскости XY, нм | 40 |
| Диапазон перемещения по оси Z, мм | 15 |
| Шаг перемещения по оси Z, нм | 40 |
| Программное обеспечение | Совместимость с ОС Windows |
| Управляющий ПК | - Core i5-72OOU CPU - 8 Гб DDR4 RAM - Монитор с диагональю 21 дюйм. 1920 х 1080 пике |
| Оптическая навигация | - Цветное изображение, разрешение 8 Мп - Увеличение от 60 крат до 600 крат - Встроенная подсветка с регулятором |
Комплектация:
- Атомно-силовой сканирующий микроскоп
- Управляющий ПК на базе Windows
- Стол оператора
- Набор расходных материалов
Аксессуары:
- Набор для крепления образца
- Подложка для образца
- Различные типы кантилеверов
Документация:
- Инструкция по применению
- Паспорт
Вы можете купить Микроскоп атомно-силовой сканирующий зондовый, Brisk в Москве в компании Лабтех по наименьшей цене.
