Микроскопы для материаловедения

Микроскоп для материаловедения HI 53 М прямой исследовательский, Himera

Микроскоп для материаловедения HIMERA HII 53 M инвертированный металлографический разработан для исследования шлифов минералов, металлов и их сплавов.

Обеспечивает возможность наблюдения в отраженном свете по методам светлого поля, темного поля, поляризации, ДИК. Модель микроскопа разработанная для стабильных и долгих исследований. Вся оптика скорректирована на бесконечность. Штатив из алюминиевого сплава, полностью механическое управление с функцией автоматического выключения.

Технические характеристики:

● - стандартная комплектация, ○ - опция

Компонент	Описание
Оптическая система	Скорректирована на бесконечность	●
Окуляры	10x/22мм	●
Тубус	Тринокулярный тубус с углом наклона 45° и возможностью вращения на 360°; межзрачковое расстояние 50–75 мм, светоделитель 100:0/0:100	●
Объективы	Объектив для светлого/темного поля План Ахромат 5X/0.15 WD=9.00mm	●
	Объектив для светлого/темного поля План Ахромат 10X/0.30 WD=9.00mm	●
	Объектив для светлого/темного поля План Ахромат 20X/0.45 WD=3.40mm	●
	Объектив для светлого/темного поля План Полу Ахромат 50X /0.55 WD=7.50mm	●
	Объектив для светлого/темного поля План Полу Ахромат 100X /0.80 WD=2.10mm	●
Турель объективов	Револьвер на 5 объективов со слотом для DIC-слайдера	●
Предметный стол	Механический столик: 240 мм (Ш) X 250 мм (Д), диапазон перемещения: 50X 50 мм; ручка с низким расположением	●
Фокусировочный механизм	Механизм грубой и тонкой фокусировки Диапазон фокусировки — 9 мм, шаг 0,002мм	●
Осветитель	Лампа галогеновая 12V/100W	●
Поляризация	Поляризатор и Анализатор поворотный 360°	●
Аксессуары, опции	Шнур питания	●
	Пылезащитный чехол	●
	Цифровая камера, Программа анализа изображения	○

Вы можете купить Микроскоп для материаловедения HI 53 М прямой исследовательский, Himera в Москве в компании Лабтех по наименьшей цене.