Микроскопы Himera оптические для материаловедения
| Розничная цена без НДС | Оптовая цена без НДС | Срок поставки | |
|---|---|---|---|
| по запросу | по запросу | под заказ |
Микроскоп HIMERA HII 53 М инвертированный для материаловедения
Сбалансированный микроскоп для лабораторных и исследовательских задач в области металлографии, материаловедении и микроэлектроники.
Инновационный дизайн формы штатива из металла обеспечивают высокую стабильность на больших увеличениях.
Модульная конструкция микроскопа позволяет подобрать методику в зависимости от ваших задач: светлое поле, темное поле, поляризация.
Оптические компоненты и объективы от производителя оптических компонентов для микроскопов OLYMPUS.
Технические характеристики:
● - стандартная комплектация, ○ - опция
|
Компонент |
Описание |
|
|
Оптическая система |
Скорректирована на бесконечность |
● |
|
Окуляры |
10x/22 |
● |
|
15x/16 |
○ | |
|
Тубус |
Тринокулярный тубус c углом наклона 30 градусов; регулировка межзрачкового расстояния 54 - 75 мм; распределение светового потока окуляры/камера - 100/00 или 50/50 |
● |
|
Бинокулярный тубус c регулировкой угла наклона от 30 до 60 градусов; вращение на 360 градусов; регулировка меж зрачкового расстояния 54 - 75 мм |
○ | |
|
Объективы |
Объектив Achromatic 5X/0.15 WD=10.8mm |
● |
|
Объектив Achromatic 10X/0.3 WD=12.2mm |
● | |
|
Объектив Achromatic 20X/0.45 WD=4.0mm |
● | |
|
Объектив Achromatic 50X/0.55 WD=7.9mm |
● | |
|
Объектив Achromatic 100X/0.8 WD=2.15 |
● | |
|
Турель объективов |
Револьвер на пять объективов |
● |
|
Предметный стол |
Поворотный столик 175х145 мм с специальным покрытием устойчивым к реактивам; диапазон перемещения 76х50 мм; точность перемещения 0.1 мм |
● |
|
Конденсор |
Конденсор ахроматический (NA 0.9) откидной |
● |
|
Фокусировочный механизм |
Механизм грубой и тонкой фокусировки Диапазон фокусировки — 27 мм |
● |
|
Осветитель |
LED 5 Вт |
● |
|
Аксессуары, опции |
Шнур питания |
● |
|
Пылезащитный чехол |
● | |
|
Анализатор вращаемый 360° |
○ | |
|
Цифровая камера |
○ |
Вы можете купить микроскоп HIMERA HII 53 М инвертированный для материаловедения в Москве в компании Лабтех по наименьшей цене