Микроскопы электронные ЛАБТЕХ
| Цена без НДС | Срок поставки | |
|---|---|---|
| по запросу | под заказ |
Микроскоп сканирующий электронный EM28 с катодом Шоттки, Лабтех
Микроскоп сканирующий электронный EM28 напольный c катодом Шоттки, Лабтех - это прибор для получения изображений c высоким разрешением за счет сканирования электронным пучком.
СЭМ ЕМ28 редназначен для высокоразрешающей визуализации микроструктур при низких ускоряющих напряжениях. Ключевым элементом конструкции является электронная пушка Шоттки (Field Emission Gun, FEG), гарантирующая высокую яркость пучка и долговременную стабильность эмиссионного тока, что критично для поддержания высокого пространственного разрешения. Электронно‑оптическая колонна микроскопа интегрирует усовершенствованную технологию ускорения, оптимизированную для работы в низковольтном режиме. Иммерсионный магнитный объектив повышает разрешающую способность системы за счёт уменьшения сферической аберрации и эффективной фокусировки пучка. Система детектирования, оптимизированная для регистрации низкоэнергетических сигналов, обеспечивает селективный и эффективный сбор вторичных электронов (SE) и электронов, рассеянных в обратном направлении (BSE).
Возможности:
- Получение изображений с высоким разрешением при низком напряжении
- Эффективная и чувствительная система детектирования
- Удобный пользовательский интерфейс
- Многофункциональная панель управления с предустановленным сочетанием клавиш
- Множество портов для дальнейшей модернизации СЭМ детекторами
Технические характеристики:
| Электронная пушка | Катод Шоттки |
| Разрешение, нм | 0,7 при 15 кВ (SE) |
| 1,1 при 1 кВ (SE) | |
| Увеличение, крат | 1 — 2 000 000 (негативное) |
| Ускоряющее напряжение, кВ | 0.02 ~ 30 |
| Ток зонда, нА | 1 - 20 |
| Детекторы | Эверхарт-Торнли (ETD) |
| обратно-рассеянных электронов (BSE), детектор обратно-рассеянных электронов для низких ускоряющих напряжений, STEM детектор «на просвет» EDS, и др. | |
| Формат изображений | TIFF, JPG, BMP, PNG |
| Камера | Навигационная камера |
| ИК-камера | |
| Столик образцов | 5-ти осевой, автоматический |
| Диапазон перемещений, мм | X: 125 |
| Y: 125 | |
| Z: 50 | |
| R: 360° | |
| T: -5° ~ +70° |
Комплектация:
- Микроскоп электронный сканирующий EM28
- Детектор вторичных электроннов (SE)
- Внутрилинзовый детектор Inlens
- ИК-камера, камера для просмотра столика сверху
- Управляющий ПК на базе Windows
- Стол оператора
- Набор расходных материалов
Аксессуары:
- Панель оператора
- Джойстик по управлению столиком
- Детекторы EDS, EBSD, STEM, CL и другие
- Плазменный очиститель
- Шлюз для быстрой смены образцов
Документация:
- Инструкция по применению
- Паспорт
Вы можете купить Микроскоп сканирующий электронный EM28 с катодом Шоттки, Лабтех в Москве в компании Лабтех по наименьшей цене.