Микроскопы электронные Himera
| Каталожный номер | Цена без НДС | Срок поставки | |
|---|---|---|---|
| 1-19971 | по запросу | под заказ |
Микроскоп электронный сканирующий DB55X, двухлучевой, напольный, катод Шоттки, Himera, 1-19971
Микроскоп электронный сканирующий DB55X, двухлучевой, напольный, катод Шоттки, Himera - это прибор позволяющий получать изображения со сверхвысоким разрешением, с помощью электронной колонны, а также проводить пробоподготовку образцов с помощью сфокусированного ионного пучка. Позволяет проводить наноанализ и пробоподготовку одновременно. Усовершенствованная технология туннелирования электронного пучка (SuperTunnel) и конструкции объективных линз свободная от магнитных полей, а также двойной конденсор, позволяет получать нанометровое разрешение при низких ускоряющих напряжениях. Ионная колонна FIB SEM со стабильным жидким Ga+ источником позволяет подготавливать качественные кросс- секции и образцы для исследования в трансмиссионном электронном микроскопе ТЭМ. Большое количество внешних портов для подключения аналитических приставок, микроманипуляторов, системы подачи газа, системы анти-контаминации делают прибор незаменимым для продвинутых исследовательских задач.
Возможности:
- подходит для передовых исследований в области науки, медицины, инженерии и других отраслей
- интуитивно понятный пользовательский интерфейс с множеством автоматических функций (автофокус, автоярскость/контраст, автостигматор, пост. обработка ИИ)
- комбинированная электростатическая и электромагнитная объективная линза, без кроссовера внутри колонны с двойным конденсором, с технологией SuperTunnel
- активная антивибрационная подвеска колонны, а также функция торможения пучка столиком и специальная архитектура колонны с двойным конденсором позволяет анализировать сложные образцы при низких ускоряющих напряжениях с ультравысоким разрешением
- новый внутрилинзовый детектор обратно-рассеянных электронов для получения композиционного контраста при низких ускоряющих напряжениях
- доступен столик с увеличенным диапазоном наклона, что расширяет возможности работы с габаритными образцами
Технические характеристики:
| Разрешение электронной колонны, нм | 0,6 при 15 кВ 1,1 при 1 кВ |
| Разрешение ионной колонны, нм | 2,5 при 30 кВ 1,0 при 1 кВ |
| Ускоряющее напряжение электронной колонны, кВ | 0,02 В — 30 |
| Ускоряющее напряжение ионной колонны, кВ | 0,5 В — 30 |
| Максимальный ток зонда, нА | 100 |
| Детекторы | Эверхарт-Торнли (ETD) Внутрилинзовый Inlense SE детектор вторичных электронов |
| Опционально: Детектор обратно-рассеянных электронов выдвижного типа (BSED), STEM детектор для работы на «просвет», EDS, EBSD | |
| Вакуумная система | Полностью автоматическая, безмасляная: форвакуумный насос, турбомолекулярный насос, 4 ионных насоса |
| Камера | Навигационная камера |
| ИК-камера — 2 шт. | |
| ПО | Автоматическая яркость/контраст, автофокус, автостигматор |
| Столик образцов | 5-ти осевой эвцентрический |
| Диапазон перемещений, мм | X: 110 |
| Y: 110 | |
| Z: 65 | |
| R: 360° | |
| T: -15° ~ +70° (- 38° ~ +90° опция) |
Комплектация:
- Микроскоп электронный сканирующий DB55X
- Детектор вторичных электроннов (SE)
- Внутрилинзовый Inlense SE детектор вторичных электронов
- Внутрилинзовый детектор обратно-рассеянных электронов
- Управляющий ПК на базе Windows
- Стол оператора
- Набор расходных материалов
- Чиллер охлаждения
- Держатель 45/90° 2 шт
- Активная антивибрационная подвеска колонны
- Режим торможения пучка столиком
Аксессуары:
- Панель оператора
- Трекбол
- Шлюз для быстрой смены образцов
- Температурные столики и столики для механических испытаний
- Дополнительный комплект ПО (сшивка панорамных изображений, анализ частиц и пор, постобработка на оффлайн ПК)
- Система торможения столиком
- Наноманипулятор 3-х или 4-х осевой
- GIS система инъекции газов (W, Pt, C, I2, XeF2)
- Кнопка экстренного отключения системы
Документация:
- Инструкция по применению
- Паспорт
- Описание типа средства измерения
- Методика поверки
Сертификация:
Прибор внесен в Государственный реестр средств измерений
Госреестр СИ РФ №94689-25
Вы можете купить Микроскоп электронный сканирующий DB55X, двухлучевой, напольный, катод Шоттки, Himera, 1-19971 в Москве в компании Лабтех по наименьшей цене.
