Микроскоп атомно-силовой
| Цена без НДС | Срок поставки | |
|---|---|---|
| по запросу | под заказ |
Микроскоп атомно-силовой Ntegra Prima сканирующий зондовый, NTMDT
Микроскоп атомно-силовой Ntegra Prima сканирующий зондовый, NTMDT - это прибор, позволяющий получать изображения и свойства образца за счет контакта острого зонда (кантилевера) поверхности образца.
NTEGRA Prima - это универсальный прибор в котором реализовано более 40 методик, позволяющий проводить физический анализ различных образцов. Исследования можно проводить на воздухе, а также в жидкости. Это модульная система АСМ, позволяющая конфигурировать под задачи пользователя.
Возможности:
- Встроенная видеосистема АСМ позволяет наводить лазер на зонд, выбирать область исследования и наблюдать за процессом в реальном времени с оптическим разрешением до 1 мкм
- Для всех трех координат (X, Y, Z) используются встроенные емкостные датчики. Они отслеживают реальное положение сканера и автоматически компенсируют искажения пьезокерамики - нелинейность, гистерезис и крип. Минимальный уровень шума обеспечивает прецизионный контроль при нанолитографии, манипуляциях с отдельными нанообъектами и съемке с максимальным увеличением
- Нанолаборатория построена на базе открытой аппаратной и программной платформы. Конструкция системы позволяет легко подключать совместимые компоненты без сложной настройки. Благодаря модульности базовый атомно-силовой микроскоп можно быстро адаптировать или расширить под новые исследовательские задачи
- Открытая архитектура дает возможность значительно расширить функционал прибора. Доступна интеграция опциональных модулей для решения узкоспециализированных задач: проведение измерений во внешнем магнитном поле,
эксперименты с контролируемым нагревом или охлаждением образца, ближнепольная оптическая микроскопия, рамановская спектроскопия, ион-проводящая микроскопия.
Технические характеристики:
| Тип сканирования | образцом | зондом* | |
| Размер образца | до 40 мм в диаметре до 15 мм по высоте | до 100 мм в диаметре до 15 мм по высоте | |
| Вес образца | до 100 г | до 300 г | |
| Позиционирование образца | 5×5 мм | ||
| Точность хода подвижки образца при позиционировании | 5 мкм | ||
| Диапазон сканирования | 100x100x10 мкм до 200x200x20 мкм (в режиме DualScan) | ||
| Нелинейность по XY (с датчиками обратной связи) | ≤ 0.1% | ||
| Среднеквадратичный шум (RMS) по координате Z в полосе 1000 Гц | С датчиками | 0.04 нм (обычно), ≤0.06 нм | 0.06 нм (обычно), ≤0.07 нм |
| Без датчиков | 0.03 нм | 0.05 нм | |
| Оптическая видеосистема | Оптическое разрешение | 1 мкм | 3 мкм |
| Поле зрения min | 0.4х0.3 мм | 0.5х0.4 мм | |
| Поле зрения max | 4.9х3.7 мм | 6.5х4.9 мм | |
| Непрерывное приближение | доступно | ||
| Виброизоляция | Активная | 0.6-200 Гц | |
| Пассивная | более 200 Гц | ||
Комплектация:
- Атомно-силовой микроскоп Ntegra Prima
- Система визуализации
- Комплект аксессуаров
Аксессуары:
- Различные типы кантилеверов
Документация:
- Инструкция пользователя
Вы можете купить Микроскоп атомно-силовой Ntegra Prima сканирующий зондовый, NTMDT в Москве в компании Лабтех по наименьшей цене.
