Микроскоп атомно-силовой

Микроскоп атомно-силовой Ntegra Spectra сканирующий зондовый, NTMDT

Микроскоп атомно-силовой Ntegra Spectra сканирующий зондовый, NTMDT - это прибор, позволяющий получать изображения и свойства образца за счет контакта острого зонда (кантилевера) поверхности образца.

NTEGRA Spectra объединяет более 40 режимов атомно-силовой микроскопии (АСМ) и сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), обеспечивая комплексную характеристику физических свойств образца с нанометровым разрешением. Прибор позволяет картировать локальную топографию, жесткость, упругость, электрическую проводимость, емкость, намагниченность, поверхностный потенциал, силы трения. Гибкая измерительная головка поддерживает установку зондовых датчиков различных типов. Одновременное выполнение конфокальной и рамановской спектроскопии в той же точке, где проводится сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ), дает детальное представление о химическом составе материала, его кристаллической структуре, пространственной ориентации и деформациях, а также выявляет наличие примесей, дефектов и особенности конформации макромолекул. Аппаратная архитектура NTEGRA Spectra включает три независимых канала ввода-вывода излучения. Они позволяют подводить к образцу инициирующее лазерное излучение и регистрировать сигнал эмиссии сверху, сбоку или снизу через прозрачные подложки. Оптические каналы могут функционировать как по отдельности, так и все вместе, что обеспечивает максимальную гибкость при планировании эксперимента.

Возможности:

- В базовой комплектации NTEGRA Spectra представляет собой интегрированную платформу, объединяющую функции конфокального лазерного микроскопа, рамановского и фотолюминесцентного спектрометра. Система обеспечивает визуализацию объекта, прецизионную фокусировку возбуждающего лазера на исследуемой области и сбор эмиссионного излучения. Для сканирования в микрорежиме предусмотрено как перемещение самого образца, так и отклонение фокуса лазерного луча с помощью гальванозеркал. В стандартной конфигурации прибор позволяет решать следующий спектр экспериментальных задач: оптическое изображение образца в белом свете с полным функционалом прямого либо инвертированного оптического микроскопа и высоким разрешением, формировать двумерные карты поверхности методом лазерной конфокальной микроскопии, строить трехмерные послойные модели прозрачных объектов за счет оптического секционирования в режиме конфокальной микроскопии, выполнять поточечное спектральное картирование сигнала комбинационного рассеяния света (рамановской спектроскопии) в 2D- и 3D-форматах, проводить аналогичное поточечное 2D- и 3D-картирование сигналов фотолюминесценции, осуществлять измерения динамики затухания люминесценции (картирование во времени), строя время-разрешенные карты свечения, работать с поляризованным светом: проводить измерения спектров, строить карты распределения и формировать изображения при независимом контроле поляризации падающего и регистрируемого излучения

- NTEGRA Spectra в расширенном варианте «зондовая микроскопия + оптическая микроспектроскопия» позволяет проводить измерения по отдельности методами СЗМ, конфокальной микроскопии, рамановской и фотолюминесцентной микроспектроскопии, а также исследовать один и тот же образец комбинированно и одновременно вышеуказанными методами, со сканированием образцом и/или зондом и/или фокусом лазера, с построением колокализованных карт любых собираемых сигналов, поточечно привязанных друг к другу.

Система в расширенной конфигурации позволяет решать следующие экспериментальные задачи, дополнительно к базовому варианту:

   - с нанометровым разрешением проводить измерения топографии и морфологии поверхности образца, а также его электрических, магнитных, механических и других локальных свойств методами атомно-силовой микроскопии

   - с нанометровым разрешением проводить измерения поверхности образца методами сканирующей туннельной микроскопии

   - реализовать с нанометровым разрешением измерения различных оптических характеристик поверхности образца методами сканирующей ближнепольной оптической микроскопии, апертурной и безапертурной

   - реализовать оптические/спектральные измерения с использованием различных эффектов волновой оптики, в частности, в режимах зондово-усиленной рамановской и фотолюминесцентной спектроскопии (TERS/TEPL), поточечно локально и с построением оптических спектральных карт, с пространственным разрешением <10 нм

Технические характеристики:

Комплектация:

- Атомно-силовой микроскоп Ntegra Spectra

Документация:

- Инструкция пользователя

Вы можете купить Микроскоп атомно-силовой Ntegra Spectra сканирующий зондовый, NTMDT в Москве в компании Лабтех по наименьшей цене.