Микроскопы электронные Himera
| Каталожный номер | Цена без НДС | Срок поставки | |
|---|---|---|---|
| 1-19980 | по запросу | под заказ |
Микроскоп электронный сканирующий EM32 напольный, термоэмиссионный (вольфрамовый), Himera, 1-19980
Микроскоп электронный сканирующий EM32 напольный, термоэмиссионный (вольфрамовый), Himera - это прибор для получения изображений структуры образцов путем сканирования электронным пучком.
Растровый электронный микроскоп Himera ЕМ32 разработан для решения задач пользователей, где важны простота эксплуатации и доступ к широким возможностям системы для операторов любого уровня квалификации. Прибор оснащён термоэмиссионным вольфрамовым катодом и современными детекторами, а также предусматривает опцию установки электронной пушки с двойным анодом - всё это обеспечивает разрешение до 3 нм и превосходный контраст получаемого изображения. Наличие двух вакуумных режимов - высокого и низкого (с возможностью работы при давлении до 1000 Па) даёт возможность анализировать практически любые образцы, включая биологические и непроводящие материалы, без дополнительной пробоподготовки. Благодаря уникальному сочетанию доступной стоимости, широкого набора детекторов и дополнительных опций EM32 становится оптимальным решением для проведения исследований в самых разных областях науки и промышленности.
Возможности:
- подходит для различных исследований в области науки, медицины, инженерии и других отраслей
- интуитивно понятный пользовательский интерфейс с множеством автоматических функций (автофокус, автоярскость/контраст, автостигматор, пост. обработка ИИ)
Технические характеристики:
| Электронная пушка | Прецентрированный вольфрамовый катод | |
| Разрешение, нм | Высокий вакуум | 3 при 30 кВ (SE) |
| 4 при 30 кВ (BSE) | ||
| 7 при 3 кВ (SE) | ||
| Низкий вакуум | 3 при 30 кВ (SE) | |
| Увеличение, крат | 1-300,000 (негативное увеличение) | |
| 1-1000,000 (экранное увеличение) | ||
| Ускоряющее напряжение, кВ | 0.2 ~ 30 | |
| Ток пучка | 1pA ~ 2μA | |
| Детекторы | Эверхарт-Торнли (ETD) | |
| обратно-рассеянных электронов (BSED) вторичных электронов для режима низкого вакуума, EDS, и др. | ||
| Формат изображений | TIFF, JPG, BMP, PNG | |
| Вакуумный режим, Па | Высокий вакуум | Лучше чем 5×10-4 |
| Низкий вакуум (опция) | 5 ~ 1000 | |
| Камера | Навигационная камера | |
| ИК-камера | ||
| Столик образцов | 5-ти осевой автоматический | |
| Диапазон перемещений, мм | X: 125 | |
| Y: 125 | ||
| Z: 50 | ||
| R: 360° | ||
| T: -10° ~ +90° | ||
Комплектация:
- Микроскоп электронный сканирующий EM32 напольный
- Детектор вторичных электроннов (SE)
- Управляющий ПК на базе Windows
- Стол оператора
- Набор расходных материалов и запасных катодов (6 штук)
Аксессуары:
- Панель оператора - Трекбол - Шлюз для быстрой смены образцов - Температурные столики и столики для механических испытаний - Дополнительный комплект ПО (сшивка панорамных изображений, анализ частиц и пор, постобработка на оффлайн ПК)
Документация:
- Инструкция по применению
- Паспорт
- Описание типа средства измерения
- Методика поверки
Сертификация:
Прибор внесен в Государственный реестр средств измерений
Госреестр СИ РФ №94689-25
