Микроскоп электронный сканирующий - высокоточный прибор, предназначенный для исследования поверхности материалов с чрезвычайно высоким увеличением и разрешением. В отличие от классических оптических микроскопов, сканирующие системы формируют изображение путем последовательного анализа поверхности специальным зондом, электронным пучком или другим типом сканирующего воздействия.
ПРИНЦИП РАБОТЫ СКАНИРУЮЩЕГО МИКРОСКОПА.
Особенность сканирующей микроскопии заключается в последовательном сканировании поверхности исследуемого объекта электронным пучком, зондом, лазером, ионным потоком. Микроскоп фиксирует изменение сигнала (электронного, электрического, оптического, магнитного, механического). После обработки сигнала формируется изображение поверхности.
Сканирующий электронный микроскоп (SEM) является одним из наиболее распространенных типов сканирующей микроскопии. Принцип работы основан на сканировании поверхности сфокусированным электронным пучком. При взаимодействии электронов с образцом возникают вторичные электроны, обратно-рассеянные электроны, характеристическое рентгеновское излучение. Эти сигналы используются для формирования изображения и элементного анализа. SEM обеспечивает огромное увеличение, высокую глубину резкости, трехмерное восприятие поверхности, высокое разрешение.
Основные узлы электронного сканирующего микроскопа - источник сканирующего воздействия (используется электронная пушка, лазер, зонд, ионный источник), система сканирования (обеспечивает перемещение электронного луча, зонда, образца), детекторы (используются для регистрации вторичных электронов, туннельного тока, отклонения кантилевера, оптического сигнала, рентгеновского излучения), вакуумная система обеспечивает стабильность электронного пучка, отсутствие рассеяния, высокое разрешение.
Основные методы анализа - морфологический анализ (позволяет исследовать, форму частиц, шероховатость, микроструктуру, пористость, дефекты поверхности), элементный анализ (позволяют определять элементный состав, распределение элементов, химические неоднородности), топографический анализ (AFM и STM позволяют получать точные трехмерные карты поверхности), нанометрические измерения используются для измерения размеров наночастиц, толщины пленок, размеров дефектов, параметров микроструктур.
Области применения электронных сканирующих микроскопов - материаловедение, микроэлектроника, биология и медицина, нанотехнологии, металлургия, криминалистика.
Сканирующие электронные микроскопы являются одними из наиболее мощных инструментов современной науки и промышленности. Возможность исследовать поверхность материалов с нанометрическим и атомарным разрешением открыла огромные перспективы для развития. Современные системы продолжают стремительно развиваться, обеспечивая все более высокое разрешение, автоматизацию и аналитические возможности.
Вы можете купить микроскоп электронный сканирующий в Москве в компании Лабтех по наименьшей цене.