Микроскопы электронные Himera
| Каталожный номер | Цена без НДС | Срок поставки | |
|---|---|---|---|
| 1-20037 | по запросу | под заказ |
Микроскоп электронный сканирующий EM40Pro, напольный, катод Шоттки, Himera, 1-20037
Микроскоп электронный сканирующий EM40Pro, напольный, катод Шоттки, Himera - это прибор для получения высокоразрешающих изображений структуры образцов путем сканирования пучком электронов.
Растровый электронный микроскоп Himera ЕМ40Pro разработан для работы с аналитическими приставками. Электронная колонна имеет трехступенчатую конструкцию конденсора позволяет получать токи 200нА, что обеспечивает преимущества в EDS, WDS, EBSD анализе. EM40Pro может оснащаться опцией низкого вакуума с низковакуумным детектором вторичных электронов для работы с плохо проводящими образцами, биологическими образцами. Программное обеспечение электронного микроскопа Himera EM40Pro имеет интуитивно понятный интерфейс и опцию оптической навигации, что позволяет работать на нем даже начинающим пользователям.
Возможности:
- Низкий вакуум в стандартной комплектации
- Подходит для различных исследований в области науки, медицины, инженерии и других отраслей
- Интуитивно понятный пользовательский интерфейс с множеством автоматических функций (автофокус, автоярскость/контраст, автостигматор, пост. обработка ИИ)
Технические характеристики:
| Разрешение, нм | Высокий вакуум | 0,9 при 30 кВ (SE) |
| Низкий вакуум | 2,5 при 30 кВ (BSE), 30 Па 1,5 при 30 кВ (SE), 30 Па | |
| Увеличение, крат | 1-1 000 000 | |
| Ускоряющее напряжение, кВ | 200 В ~ 30 | |
| Детекторы | Эверхарт-Торнли (ETD) Детектор для работы в режиме низкого вакума (LVD) уДетектор обратно-рассеянных электронов (BSED) | |
| Опционально: STEM, EDS, EBSD | ||
| Низкий вакуум, Па | 10-180 | |
| Управление | Полностью автоматическое | |
| Камера | Навигационная камера | |
| ИК-камера | ||
| Столик образцов | 5-ти осевой автоматический | |
| Диапазон перемещений, мм | X: 110 | |
| Y: 110 | ||
| Z: 65 | ||
| R: 360° | ||
| T: -10° ~ +70° | ||
Комплектация:
- Микроскоп электронный сканирующий EM40Pro
- Детектор вторичных электроннов (SE)
- Детектор обратно-рассеяных электронов (BSE) выдвижного типа
- Детектор для работы в низком вакууме (LVD)
- Управляющий ПК на базе Windows
- Стол оператора
- Набор расходных материалов
- Чиллер водяного охлаждения
Аксессуары:
- Панель оператора
- Трекбол
- Шлюз для быстрой смены образцов
- Температурные столики и столики для механических испытаний
- Дополнительный комплект ПО (сшивка панорамных изображений, анализ частиц и пор, постобработка на оффлайн ПК)
- Антивибрационная платформа
- Активная антивибрационная подвеска колонны/камеры микроскопа
- Система защиты от электромагнитных полей
Документация:
- Инструкция по применению
- Паспорт
- Описание типа средства измерения
- Методика поверки
Сертификация:
Прибор внесен в Государственный реестр средств измерений
Госреестр СИ РФ №94689-25
