Столик для образца наклонный 45°/90°, алюминий, 25 мм x 10 мм

Столик для образца наклонный 45°/90°, алюминий, 25 мм x 10 мм для электронной микроскопии из сплавов алюминия, меди и других, размер любой под запрос. Столики различных систем крепления для микроскопов Zeiss, FEI, Tescan, Hitachi, Jeol, корейских и китайских производителей.

В зависимости от решаемой задачи, размеров образцов и необходимости позиционирования образцов под различными углами в пространстве, используются столики различной формы.

Возможны варианты наклонов 35°/90°, 45°/90°, 90°/90°.

Вы можете купить столик для образца наклонный 45°/90°, Алюминий, 25 мм x 10 мм в Москве в компании Лабтех по наименьшей цене.