Столики
(стабы) для образцов СЭМ (SEM)
Столики
(стабы) для электронной микроскопии из
сплавов алюминия, меди и других, размер
любой под запрос. Столики различных
систем крепления для микроскопов Zeiss,
FEI, Tescan, Hitachi, Jeol, корейских и китайских
производителей.
В
зависимости от решаемой задачи, размеров
образцов и необходимости позиционирования
образцов под различными углами в
пространстве, используются столики
различной формы.
Доступно
более 100 различных вариантов исполнения,
для подбора и подготовки лучшего
предложения.