Столики (стабы) для образцов СЭМ (SEM) Столики (стабы) для электронной микроскопии из сплавов алюминия, меди и других, размер любой под запрос. Столики различных систем крепления для микроскопов Zeiss, FEI, Tescan, Hitachi, Jeol, корейских и китайских производителей.
В зависимости от решаемой задачи, размеров образцов и необходимости позиционирования образцов под различными углами в пространстве, используются столики различной формы.
Доступно более 100 различных вариантов исполнения, для подбора и подготовки лучшего предложения.