Столики (стабы) для образцов СЭМ (SEM)

Столик на ножке (стаб) для образца СЭМ двухсторонний 90°, алюминий, 25 мм x 9 мм

Столик на ножке (стаб) для образца СЭМ двухсторонний 90°, алюминий, 25 мм x 9 мм для электронной микроскопии из сплавов алюминия, меди и других, размер любой под запрос. 

 

Столики различных систем крепления для микроскопов Zeiss, FEI, Tescan, Hitachi, Jeol, корейских и китайских производителей.

В зависимости от решаемой задачи, размеров образцов и необходимости позиционирования образцов под различными углами в пространстве, используются столики различной формы.

 

Технические характеристики:

 

Характеристика	Значение
Диаметр х высота	50мм х 10мм
Наклон рабочей поверхности	90°/90°

Вы можете купить Столик на ножке (стаб) для образца СЭМ двухсторонний 90°, алюминий, 25 мм x 9 мм в Москве в компании Лабтех по наименьшей цене.