Столик для образца СЭМ четырехсегментный, алюминий, 50 мм x 10 мм

Столик для образца СЭМ четырехсегментный, алюминий, 50 мм x 10 мм для электронной микроскопии из сплавов алюминия, меди и других, размер любой под запрос. Столики различных систем крепления для микроскопов Zeiss, FEI, Tescan, Hitachi, Jeol, корейских и китайских производителей.

В зависимости от решаемой задачи, размеров образцов и необходимости позиционирования образцов под различными углами в пространстве, используются столики различной формы.

Возможны варианты размеров 25мм х 10мм; 32мм х 10мм; 50мм х 10мм.

Вы можете купить столик для образца СЭМ четырехсегментный, алюминий, 50 мм x 10 мм в Москве в компании Лабтех по наименьшей цене.