Калибровочные образцы для СЭМ (SEM) и ПЭМ (TEM)

Образцы для калибровки

Компания Лабтех поставляет эталонные образцы для калибровки эксплуатационных показателей электронных микроскопов. В ассортименте компании представлены образцы для просвечивающих и сканирующих электронных микроскопов Zeiss, FEI, Tescan, Hitachi, Jeol, корейских и китайских производителей. При наличии специализированных запросов мы подберем альтернативные решения, пожалуйста обращайтесь за консультацией. 

Цены указаны при условии объема единовременной закупки на сумму не менее 350 тыс. руб. включая НДС 20%.

Наименование Цена без НДС Срок поставки
Образец для калибровки монокристалла кремния
LM55041
31 000₽ под заказ
Образец для калибровки сферы из латекса
LM55040
по запросу под заказ