Микроскопия

Микроскопия

Микроскопия - это совокупность методов и технологий, используемых для наблюдения объектов, которые слишком малы, чтобы быть видимыми невооруженным глазом. Основной инструмент микроскопии — это микроскоп, устройство, которое использует различные формы излучения, чтобы увеличить и визуализировать мелкие объекты.

История микроскопии

Древний период. Первые упоминания об использовании увеличительных стекол относятся к 1 веку н.э. (Сенека и Плиний Старший). В древней Греции и Риме использовали примитивные линзы для увеличения объектов.

Средние века. В 13 веке Роджер Бэкон описывал использование увеличительных стекол.

16-17 века. 1590 - Ханс и Захариас Янсены создали первый составной микроскоп. 1665 - Роберт Гук впервые использовал термин "клетка", наблюдая срез пробки. Антони ван Левенгук усовершенствовал микроскопы и впервые наблюдал микроорганизмы.

18-19 века. Введение ахроматических линз и микроскопов высокого разрешения. Совершенствование техники микроскопирования и увеличение качества изображений.

20-21 века. Введение электронных микроскопов (1931). Развитие конфокальной лазерной микроскопии и других передовых методов.

Структура микроскопии

Оптическая микроскопия является основным инструментом для увеличения и визуализации мелких объектов с помощью видимого света.

Основные компоненты оптического микроскопа

- Основание (штатив). Стойкая и тяжелая часть, обеспечивающая устойчивость микроскопа. Часто включает встроенный источник света.

- Осветительная система. Источник света - лампа (галогеновая, светодиодная), обеспечивающая освещение образца. Конденсор - система линз, фокусирующая свет на образец для равномерного освещения. Ирисовая диафрагма - регулирует количество света и улучшает контраст изображения.

- Механическая система. Платформа (столик) - поверхность, на которой размещается образец. Может быть неподвижной или подвижной (механический столик). Зажимы для образца - держивают препарат на месте. Коаксиальные винты - используются для точного перемещения столика в двух плоскостях (XY-координаты).

- Оптическая система. Окуляр - линза или система линз, через которую пользователь смотрит на образец. Увеличение обычно варьируется от 5x до 20x. Тубус - трубка, соединяющая окуляр с объективом. Может быть прямым или наклонным. Револьверное устройство - держатель для объективов, позволяющий быстро менять увеличение, поворачивая револьвер. Объективы - основные увеличительные элементы микроскопа, расположенные близко к образцу. Обычно есть несколько объективов с различным увеличением (4x, 10x, 40x, 100x).

- Фокусировочная система. Грубая фокусировка - винт для быстрого перемещения тубуса или столика, чтобы приблизить объект к фокусному расстоянию. Точная фокусировка - винт для тонкой настройки фокуса, позволяющий получить четкое изображение.

Типы оптических микроскопов

Световой микроскоп. Использует обычный видимый свет. Подразделяется на простые и составные микроскопы. Широко используется в биологии, медицине и учебных целях.

Флуоресцентный микроскоп. Использует ультрафиолетовый свет для возбуждения флуоресцентных меток в образце. Позволяет выделить специфические структуры или молекулы. Применяется в биологических и медицинских исследованиях.

Фазово-контрастный микроскоп. Преобразует различия в фазах света, проходящего через образец, в различия в интенсивности. Позволяет наблюдать прозрачные или слабо контрастные объекты без окрашивания. Используется для изучения живых клеток и микроорганизмов.

Дифференциально-интерференционный контрастный микроскоп (DIC). Использует поляризованный свет и интерференционные эффекты для создания изображений с высокой контрастностью и трехмерным видом. Идеален для наблюдения тонких структур.

Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп (CLSM). Использует лазерные лучи для сканирования образца и формирования изображений с высоким разрешением в трех измерениях. Позволяет получать оптические срезы и создавать 3D реконструкции объектов. Широко используется в клеточной биологии и медицинских исследованиях.

Принципы работы оптических микроскопов

Увеличение. Общий коэффициент увеличения микроскопа равен произведению увеличений объектива и окуляра. Пример: объектив 40x и окуляр 10x дают общее увеличение 400x.

Разрешение. Минимальное расстояние между двумя точками, при котором они еще различимы как отдельные. Разрешение зависит от длины волны света и числовой апертуры объектива.

Контраст. Различие в интенсивности света между объектом и фоном. Методы повышения контраста включают использование окрашивания, фазово-контрастной микроскопии и DIC.

Электронная микроскопия использует электронные пучки для получения изображений образцов с чрезвычайно высоким разрешением, позволяя видеть детали на нанометровом уровне. Существуют два основных типа электронных микроскопов: просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ или TEM) и сканирующий электронный микроскоп (СЭМ или SEM). Рассмотрим их структуру и принцип работы подробнее.

Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ или TEM)

- Электронная пушка. Источник электронов - термокатод (вольфрамовая или LaB6 нить) или эмиссионный катод (полевой эмиссионный источник). Система ускорения - высокое напряжение (обычно 100-300 кВ), ускоряющее электроны.

- Конденсорная система линз. Конденсорные линзы - формируют и фокусируют электронный пучок на образец. Конденсорная диафрагма - контролирует размер пучка и улучшает контраст изображения.

- Образец. Должен быть достаточно тонким (менее 100 нм), чтобы электроны могли пройти через него. Образец помещается на сетчатую подложку и вставляется в держатель образцов.

- Объективные линзы. Объективная линза - фокусирует электроны, прошедшие через образец, формируя промежуточное изображение. Объективная диафрагма - улучшает контраст и разрешение, исключая рассеянные электроны.

- Проекционная система линз. Проекционные линзы - увеличивают промежуточное изображение и проецируют его на экран или детектор. Флуоресцентный экран - используется для визуализации электронного изображения в реальном времени.

- Детекторы - CCD-камеры или другие электронные детекторы для цифрового захвата изображения.

- Вакуумная система. Электронный пучок требует вакуума для минимизации рассеяния электронов в воздухе. Вакуумные насосы (ротационные, диффузионные, турбомолекулярные) поддерживают высоковакуумное состояние.

Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ или SEM)

- Электронная пушка. Источник электронов - термокатод (вольфрамовая или LaB6 нить) или эмиссионный катод (полевой эмиссионный источник). Система ускорения - высокое напряжение (обычно 1-30 кВ), ускоряющее электроны.

- Конденсорная система линз. Конденсорные линзы - формируют и фокусируют электронный пучок на образец. Система сканирования -электронные пучки отклоняются магнитными или электростатическими отклоняющими системами для сканирования поверхности образца.

- Образец. Размещается на столике для образцов, который может перемещаться в трех измерениях (X, Y, Z) и э иногда вращаться и наклоняться. Образцы могут быть подготовлены с помощью напыления тонкого слоя проводящего материала (золото, углерод) для уменьшения заряда.

- Детекторы. Детектор вторичных электронов (SE) - регистрирует электроны, выбитые с поверхности образца, создавая топографическое изображение. Детектор рентгеновского излучения (EDS) - анализирует характеристическое рентгеновское излучение для элементного анализа образца.

- Вакуумная система. Вакуум необходим для предотвращения взаимодействия электронов с молекулами воздуха. Вакуумные насосы поддерживают высоковакуумное состояние.

Принципы работы электронного микроскопа

ПЭМ (TEM). Электронный пучок проходит через тонкий образец. Электроны взаимодействуют с атомами образца, создавая дифракцию. Пройденные электроны формируют изображение, отображающее внутреннюю структуру образца.

СЭМ (SEM). Электронный пучок сканирует поверхность образца. Вторичные и обратно рассеянные электроны собираются детекторами, создавая изображение поверхности. Высокое разрешение и глубина резкости позволяют видеть мелкие детали рельефа.

Электронные микроскопы играют ключевую роль в современной науке и технике, предоставляя детализированные изображения на наноуровне и позволяя проводить глубокие исследования структуры материалов и биологических объектов.

Специальная микроскопия

Конфокальные микроскопы представляют собой передовые оптические инструменты, которые позволяют получать высокоразрешенные изображения в трех измерениях. Их особенность заключается в использовании точечного источника света и детектора, что минимизирует рассеяние света и повышает контрастность и разрешение изображения. Рассмотрим структуру конфокальных микроскопов более детально.

Основные компоненты конфокального микроскопа

- Источник света. Лазер - лазеры различных длин волн (например, аргоновый, гелий-неоновый, диодный лазер) используются для возбуждения флуоресценции в образце. Лазеры обеспечивают монохроматический и когерентный свет, что важно для точечного освещения.

- Сканирующая система. Гальванометрические зеркала - эти зеркала быстро перемещают лазерный луч по поверхности образца в горизонтальном и вертикальном направлениях, создавая растр (сканирующую сетку).

- Система сканирования - обеспечивает точное позиционирование лазерного луча на образце и синхронизацию с детектором для формирования изображения.

- Образец и столик для образца. Столик для образца - обычно подвижный в трех измерениях (X, Y, Z) для точного позиционирования образца. Образец - образцы часто окрашиваются флуоресцентными метками, чтобы выделить интересующие структуры.

- Объективы. Высококачественные объективы с высокой числовой апертурой (НА), обеспечивающие необходимое разрешение и светосилу для наблюдения мелких структур. Объективы также помогают фокусировать лазерный луч на определенном оптическом срезе образца.

- Конфокальная апертура (пинхол). Пинхол - маленькое отверстие, расположенное перед детектором, которое блокирует свет, не сфокусированный на плоскости фокуса. Это увеличивает контраст и разрешение изображения, устраняя рассеянный свет.

- Детекторы. Фотодетекторы - фотоумножители (PMT) или лавинные фотодиоды (APD) регистрируют флуоресцентный сигнал, прошедший через пинхол. Эти детекторы обладают высокой чувствительностью и быстрым откликом, что важно для сканирования.

- Эмиссионные фильтры. Фильтры - пропускают свет только определенной длины волны, соответствующей флуоресценции, и блокируют излучение лазера. Это необходимо для разделения возбуждающего света и излучаемого флуоресцентного сигнала.

- Система управления и обработки данных. Компьютер - управляет сканирующей системой, синхронизирует работу лазеров и детекторов, а также обрабатывает и сохраняет полученные изображения. Программное обеспечение - специальные программы для управления микроскопом, настройки параметров сканирования, анализа и 3D-реконструкции изображений.

Принцип работы конфокального микроскопа

- Освещение образца. Лазерный луч фокусируется на небольшой точке внутри образца. Гальванометрические зеркала перемещают луч по плоскости XY, сканируя весь срез.

- Флуоресценция. Флуоресцентные метки в образце поглощают свет лазера и испускают свет на другой длине волны. Этот флуоресцентный свет собирается объективом и направляется через пинхол к детектору.

- Конфокальная апертура. Пинхол блокирует свет, который не сфокусирован на оптической плоскости фокуса, уменьшая рассеяние и увеличивая контраст.

- Детектирование. Флуоресцентный свет, прошедший через пинхол, регистрируется фотодетектором, и данные о его интенсивности передаются на компьютер.

- Сканирование и сбор данных. Компьютер синхронизирует сканирование и регистрирует интенсивность флуоресценции для каждой точки сканирования, создавая изображение с высоким разрешением.

- Формирование изображения. Полученные данные собираются в двумерное изображение одного оптического среза. Для создания трехмерного изображения микроскоп последовательно сканирует множество срезов на различных глубинах (по оси Z).

Конфокальные микроскопы являются мощным инструментом для детализированного изучения микроскопических структур и процессов, позволяя ученым заглянуть в глубь клеток и материалов с беспрецедентной точностью.

Флуоресцентные микроскопы являются важными инструментами для визуализации и анализа биологических образцов, помеченных флуоресцентными красителями. Они позволяют исследовать структуры и процессы на клеточном и молекулярном уровнях. Рассмотрим структуру флуоресцентных микроскопов более подробно.

Основные компоненты флуоресцентного микроскопа

- Источник света. Ртутные или ксеноновые лампы - эти лампы излучают широкий спектр света, включая ультрафиолетовый (УФ) и видимый свет, необходимый для возбуждения флуорофоров. Светодиоды (LED) - современные системы часто используют LED источники света, которые обеспечивают стабильное, интенсивное и энергоэффективное освещение с возможностью выбора длины волны.

- Возбуждающий фильтр. Фильтр, который пропускает только свет определенной длины волны, соответствующей спектру возбуждения флуорофора, используемого в образце.

- Дихроичное зеркало (дихроический разделитель луча). Полупрозрачное зеркало, которое отражает свет возбуждения на образец, но пропускает эмиссионный свет флуоресценции в направлении детектора. Это позволяет разделить возбуждающий и испускаемый свет.

- Образец и столик для образца. Столик для образца - обычно подвижный в двух или трех измерениях (X, Y, Z), что позволяет точно позиционировать образец под объективом. Образец - образцы, окрашенные флуоресцентными метками, которые выделяют интересующие структуры или молекулы.

- Объективы. Высококачественные объективы с высокой числовой апертурой (НА), обеспечивающие необходимое разрешение и светосилу для наблюдения мелких структур. Объективы также помогают фокусировать свет на образце и собирать испускаемый свет флуоресценции.

- Эмиссионный фильтр. Фильтр, который пропускает только свет определенной длины волны, соответствующей спектру эмиссии флуорофора, и блокирует все остальные длины волн, включая свет возбуждения. Это улучшает контраст и четкость изображения.

- Детектор. Глаз или окуляры - традиционный метод наблюдения флуоресцентных изображений. Камеры (CCD или CMOS) - электронные детекторы для захвата и сохранения флуоресцентных изображений. Эти камеры обеспечивают высокую чувствительность и разрешение, что важно для анализа слабых флуоресцентных сигналов.

Принцип работы флуоресцентного микроскопа

- Возбуждение флуоресценции. Свет от источника проходит через возбуждающий фильтр, который пропускает только свет определенной длины волны. Возбуждающий свет отражается дихроичным зеркалом и направляется на образец.

- Флуоресценция. Возбуждающий свет вызывает флуоресценцию флуорофоров в образце, которые испускают свет на другой длине волны. Испускаемый флуоресцентный свет проходит обратно через объектив и дихроичное зеркало, которое пропускает его к детектору.

- Детектирование флуоресценции. Испускаемый свет проходит через эмиссионный фильтр, который блокирует возбуждающий свет и пропускает только флуоресцентный сигнал. Детектор (глаз или камера) регистрирует интенсивность флуоресценции и формирует изображение.

Флуоресцентные микроскопы являются незаменимыми инструментами в современных научных исследованиях, позволяя ученым исследовать структуры и процессы на клеточном и молекулярном уровнях с высокой точностью и контрастностью.

Атомно-силовые микроскопы (АСМ или AFM, Atomic Force Microscope) являются мощными инструментами для изучения поверхности материалов на нанометровом уровне. Они позволяют исследовать топографию, механические свойства и другие характеристики образцов с высоким разрешением. Рассмотрим структуру АСМ более подробно.

Основные компоненты атомно-силового микроскопа

- Пьезоэлектрический сканер. Трубчатый сканер - основной компонент, ответственный за точное перемещение зонда по поверхности образца в трех измерениях (X, Y, Z). Пьезоэлектрический элемент позволяет сканеру перемещаться с нанометровой точностью. Столик для образца - удерживает образец и может перемещаться для сканирования поверхности.

- Зонд (кантилевер) с острием. Кантилевер - упругая балка, обычно из кремния или нитрида кремния, с острием на конце. Острие - остроконечный элемент, который взаимодействует с поверхностью образца. Радиус острия обычно составляет от нескольких нанометров до десятков нанометров.

- Система детектирования. Лазерный диод - излучает лазерный луч, который направляется на заднюю поверхность кантилевера. Фотодетектор (позиционно-чувствительный детектор, PSD) - улавливает отраженный лазерный луч и регистрирует изменения положения кантилевера. PSD обычно состоит из четырехквадрантного детектора, который может измерять отклонения кантилевера по вертикали и горизонтали.

- Система управления обратной связью. Контроллер: Электронное устройство, которое обрабатывает сигналы от фотодетектора и управляет движением пьезоэлектрического сканера. Система обратной связи регулирует положение зонда для поддержания постоянной силы взаимодействия между остием и поверхностью образца.

- Виброизоляция и антивибрационные системы. Антивибрационные столы - специальные платформы, которые минимизируют внешние вибрации и обеспечивают стабильные условия для сканирования. Активные виброизоляционные системы - используют сенсоры и активные элементы для подавления вибраций в реальном времени.

- Контроллер и программное обеспечение. Контроллер - центральный блок управления, который координирует работу всех компонентов микроскопа, включая сканер, детекторы и систему обратной связи. Программное обеспечение: Используется для управления микроскопом, сбора данных, их анализа и визуализации. ПО позволяет настраивать параметры сканирования, обрабатывать и интерпретировать полученные изображения.

Принципы работы атомно-силового микроскопа

- Режим контактного сканирования (Contact Mode). В этом режиме острие кантилевера постоянно контактирует с поверхностью обантилевера, которые регистрируются фотодетектором. Система обратной сразца. Изменения высоты поверхности вызывают отклонения квязи регулирует вертикальное положение сканера, чтобы поддерживать постоянную силу взаимодействия.

- Режим бесконтактного сканирования (Non-contact Mode). Острие кантилевера не касается поверхности образца, а находится на небольшом расстоянии. Взаимодействие между острием и поверхностью происходит за счет слабых сил притяжения (ван-дер-ваальсовы силы). Кантилевер колеблется с определенной частотой, и изменения в амплитуде или фазе этих колебаний используются для получения топографической информации.

- Режим сканирования с периодическим касанием (Tapping Mode). Кантилевер колеблется на резонансной частоте и периодически касается поверхности образца. Этот режим уменьшает повреждение образца и кантилевера, обеспечивая высокое разрешение и точность измерений. Изменения в амплитуде колебаний используются для построения топографического изображения.

Атомно-силовые микроскопы являются незаменимыми инструментами в современных научных исследованиях и промышленности, позволяя детально изучать и манипулировать материалами на нанометровом уровне.

Крупнейшие мировые производители микроскопов

Carl Zeiss (Германия). Один из старейших и самых уважаемых производителей микроскопов. Специализируется на производстве как оптических, так и электронных микроскопов.

Nikon (Япония). Знаменитый японский производитель оптики, включая микроскопы. Известен высококачественными биологическими и стерео микроскопами.

Olympus (Япония). Ведущий производитель микроскопов для медицины и биологических исследований. Известен своими инновациями в области оптической микроскопии.

Leica Microsystems (Германия). Производит широкий ассортимент микроскопов, включая биологические, индустриальные и цифровые модели. Лидер в области микроскопов с высокой разрешающей способностью.

Hitachi (Япония). Известен своими электронными микроскопами. Признан за высокое качество и точность своих приборов.

Современные тенденции микроскопиии

Микроскопия в нанотехнологии

Микроскопия играет ключевую роль в развитии нанотехнологий, предоставляя инструменты и методы для исследования, анализа и манипуляции материалов на наноразмерном уровне. Эволюция микроскопических методов и приборов значительно расширила возможности ученых и инженеров в различных областях, таких как материаловедение, биология, медицина, электроника и многие другие.

Вклад микроскопии в нанотехнологии

- Характеризация материалов. Топографический анализ - АСМ и СТМ позволяют исследовать поверхностную топографию с атомарным разрешением. Это важно для изучения структуры и свойств наноматериалов, таких как углеродные нанотрубки, графен и наночастицы. Структурный анализ - ПЭМ используется для изучения кристаллической структуры материалов, дефектов, дислокаций и наноструктур.

- Изучение физических и химических свойств. Механические свойства - АСМ позволяет измерять жесткость, адгезию и трение на наноразмерном уровне. Электрические свойства - СТМ и проводящий АСМ используются для измерения локальной проводимости и других электрических характеристик наноматериалов. Химический состав - ПЭМ с энергодисперсионной рентгеновской спектроскопией (EDS) позволяет анализировать элементный состав на нанометровом уровне.

- Манипуляция и нанолитография. Манипуляция атомами и молекулами - с помощью СТМ и АСМ можно перемещать отдельные атомы и молекулы, создавая новые наноструктуры и изучая их взаимодействия. Нанолитография - АСМ и СТМ используются для создания нанометровых структур и узоров на поверхностях, что важно для разработки наноустройств и наноматериалов.

Применение микроскопии в различных областях нанотехнологий

- Электроника и полупроводники. Контроль качества - электронные микроскопы используются для контроля качества полупроводниковых устройств, изучения дефектов и анализа микроструктур. Разработка новых материалов - сканирующие зондовые микроскопы помогают в создании и исследовании новых наноматериалов для электроники, таких как квантовые точки и нанопровода.

- Биология и медицина. Биосенсоры - разработка наночастиц и наноструктур для биосенсоров, которые могут обнаруживать биомолекулы с высокой чувствительностью и специфичностью. Нанолекарства - изучение взаимодействия наночастиц с биологическими клетками и тканями для разработки целевых систем доставки лекарств.

- Материаловедение. Нанокомпозиты - исследование структуры и свойств нанокомпозитов, состоящих из матрицы и нанодобавок, для улучшения их механических, термических и электрических характеристик. Поверхностные покрытия - изучение и разработка нанопокрытий с улучшенными свойствами, такими как износостойкость, антикоррозионные и антибактериальные свойства.

Микроскопия остается ключевым инструментом в развитии нанотехнологий, предоставляя ученым и инженерам возможность исследовать и манипулировать материей на уровне отдельных атомов и молекул. Продолжающееся развитие микроскопических методов и технологий будет способствовать новым открытиям и инновациям в различных областях науки и техники.

Микроскопия в биомедицине

Микроскопия играет важную роль в биомедицине, предоставляя учёным и врачам возможность исследовать и визуализировать биологические структуры и процессы с высоким разрешением. С развитием микроскопических методов и технологий стало возможным глубокое понимание клеточной биологии, диагностика заболеваний, разработка новых терапий и многое другое. Рассмотрим основные методы микроскопии и их применение в биомедицине.

Применение микроскопии в биомедицине

- Клеточная биология. Исследование структуры клеток - микроскопия позволяет визуализировать клеточные органеллы, цитоскелет, мембранные структуры и другие компоненты клетки. Это важно для понимания клеточной организации и функций. Динамические процессы - флуоресцентная и конфокальная микроскопия позволяют наблюдать процессы, такие как деление клеток, внутриклеточный транспорт, взаимодействие клеток и патогенов в реальном времени.

- Диагностика заболеваний. Гистопатология - световая и электронная микроскопия используются для исследования тканей и вы инфекционных заболеваний и других патологий. Вирусология - электронная микроскопия позволяет детально изучать вирусные частицы и их взаимодействие с клетками-хозяевами. Это важно для диагностики вирусных инфекций и разработки вакцин.

- Разработка терапий. Таргетная терапия - флуоресцентная микроскопия помогает в изучении механизмов действия лекарственных препаратов на клеточном уровне и оценке их эффективности. Генная терапия - микроскопия используется для изучения доставки генетических материалов в клетки и оценки их функциональной активности.

- Исследование биоматериалов. Биосовместимость - бикроскопические методы позволяют оценивать взаимодействие биоматериалов с клетками и тканями, что важно для разработки имплантатов и медицинских устройств. Наноматериалы - флуоресцентная и электронная микроскопия используются для исследования свойств наночастиц и их воздействия на биологические системы.

- Изучение биологических молекул. Белковая структура - электронная криомикроскопия (крио-ПЭМ) позволяет получать трёхмерные структуры белков и других макромолекул с высоким разрешением, что важно для понимания их функций и разработки лекарств. Взаимодействие молекул - АСМ и СТМ используются для изучения взаимодействий между биомолекулами на нанометровом уровне, что помогает раскрыть механизмы биологических процессов.

Примеры использования микроскопии в биомедицине

- Раковые исследования. Изучение метастазирования - конфокалиьная и флуоресцентная микроскопия используются для изучения механизмов метастазирования раковых клеток и взаимодействия с микросредой. Тестирование лекарств - микроскопические методы помогают оценить эффективность и токсичность новых противораковых препаратов на клеточных моделях.

- Инфекционные болезни. Визуализация патогенов - электронная микроскопия позволяет детально изучать бактерии, вирусы и паразиты, а также их взаимодействие с клетками-хозяевами. Разработка вакцин - микроскопические методы помогают в исследовании структуры и поведения антигенов, что важно для разработки эффективных вакцин.

- Нейробиология. Изучение нейронов - флуоресцентная и конфокальная микроскопия используются для исследования структуры и функций нейронов, синапсов и нейронных сетей. Нейродегенеративные заболевания - микроскопические методы помогают изучать патологические изменения в нейронах при таких заболеваниях, как болезнь Альцгеймера и болезнь Паркинсона.

Будущее микроскопии в биомедицине

- Улучшение разрешения и скорости. Развитие суперразрешающих методов - продолжение разработки и совершенствования методов, таких как STED, PALM и STORM, для достижения ещё более высокого разрешения и быстроты визуализации. Высокоскоростная микроскопия - разработка методов, позволяющих получать изображения с высоким разрешением в реальном времени, что важно для изучения быстрых биологических процессов.

- Мультиплексная микроскопия. Комбинирование методов - разработка подходов, позволяющих комбинировать различные микроскопические методы (например, оптическую и электронную микроскопию) для получения комплексной информации об образце. Мультифункциональные метки - использование флуоресцентных меток с различными спектральными характеристиками для одновременной визуализации нескольких компонентов в образце.

- Автоматизация и анализ данных. Машинное обучение и искусственный интеллект - применение алгоритмов машинного обучения для автоматического анализа микроскопических изображений и выявления значимых биологических особенностей. Большие данные - разработка методов для обработки и интерпретации больших объемов микроскопических данных, полученных в ходе исследований.

Микроскопия продолжает оставаться важным и быстро развивающимся инструментом в биомедицине, способствуя новым открытиям и улучшению методов диагностики и лечения заболеваний.

Вы можете купить оптические, электронные, конфокальные, атомно-силовые микроскопы в Москве в нашей компании по наименьшей цене.

Наименование Розничная цена без НДС Оптовая цена без НДС Срок поставки
Микроскоп электронный сканирующий Himera DB50 c ионным пучком FIB SEM, катод Шоттки, напольный
LM61495
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп электронный сканирующий Himera EM20 термоэмиссионный, вольфрамовый катод, напольный
LM61447
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп электронный сканирующий Himera EM32 термоэмиссионный, вольфрамовый катод, напольный
LM61471
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп электронный сканирующий Himera EM32А термоэмиссионный, вольфрамовый катод, напольный
LM61469
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп электронный сканирующий Himera EM40Pro, катод Шоттки, напольный
LM61476
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп электронный сканирующий Himera EM50, катод Шоттки, напольный
LM61483
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп электронный сканирующий Himera EM50x, катод Шоттки, напольный
LM61487
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп атомно-силовой Brisk сканирующий зондовый
LM61786
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп электронный сканирующий Coxem EM-30 настольный
LM61743
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп электронный сканирующий Himera EM CUBE настольный
LM58315
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп электронный сканирующий Hitachi TM4000 Plus настольный
LM61725
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп электронный сканирующий JEOL JCM-7000 настольный
LM61738
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп электронный сканирующий Phenom Thermo Fisher Scientific настольный
LM61729
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп электронный сканирующий SEC SNE Alpha настольный
LM61526
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп HIMERA HI 23 биологический, прямой, лабораторный
LM68080
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп HIMERA HI 53 М для материаловедения, прямой, исследовательский
LM65420
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп электронный просвечивающий Himera TEM120
LM63384
по запросу по запросу   под заказ
Стереомикроскоп HIMERA DMZ 8 цифровой
LM64642
по запросу по запросу   под заказ
Стереомикроскоп HIMERA SZ 7
LM64594
по запросу по запросу   под заказ
Стереомикроскоп HIMERA SZX 12
LM64640
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп HIMERA HI 53 P поляризационный, прямой, исследовательский
LM65419
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп Himera HI43 биологический, прямой, лабораторный, фототубус
LM64583
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп HIMERA HI 53 биологический, прямой, исследовательский
LM64623
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп HIMERA HI 63 М для материаловедения, прямой, исследовательский
LM65422
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп HIMERA HI 63 биологический, прямой, исследовательский
LM64626
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп HIMERA HII 53 М инвертированный для материаловедения
LM65418
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп HIMERA HII 53 биологический, инвертированный, лабораторный
LM64506
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп цифровой HIMERA Smart HI для 3D визуализации
LM65860
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп HIMERA HII 73 биологический, инвертированный, исследовательский
LM64655
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп инспекционный HIMERA HI 12 Insp
LM65859
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп Himera HII 83 биологический, инвертированный, исследовательский, моторизованный
LM64659
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп HIMERA HSM 4000 конфокальный, биологический, инвертированный, исследовательский, LED-диодные лазеры (405нм, 488нм, 561нм, 640нм)
LM64703
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп HIMERA NIR для работы в инфракрасном диапазоне, in vivo, биологический, прямой, исследовательский, лазер IR
LM64702
по запросу по запросу   под заказ
Cканер стёкол HIMERA HS6
LM68560
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axio Lab.A1 светлое поле, 490950-0001-000
SW22502
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axio Lab.A1 светлое поле, 490950-0004-000
SW76924
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axio Lab.A1 светлое поле, 490950-0010-000
GO3379
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axio Lab.A1 светлое поле, поляризационный, 490950-0007-000
LM10722
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axio Lab.A1 светлое поле, поляризационный, 490950-0008-000
LM10723
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axio Lab.A1 светлое поле, поляризационный, 490952-0003-000
LM10726
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axio Lab.A1 светлое поле, поляризационный, 490952-0004-000
LM10727
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axio Lab.A1 светлое поле, фазовый контраст, 490950-0002-000
SW07566
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axio Lab.A1 светлое поле, фазовый контраст, 490950-0003-000
SW05295
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axio Lab.A1 светлое поле, фазовый контраст, флуоресценция, 490950-0005-000
LM10724
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axio Lab.A1 светлое поле, фазовый контраст, флуоресценция, 490950-0006-000
LM10725
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axiolab 5 для гематологии, 490980-0004-000
LM12868
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axiolab 5 для гистологии и патологической анатомии, 490980-0005-000
LM12864
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axiolab 5 для микробиологии в проходящем свете и флюоресценции, 490980-0008-000
LM12870
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axiolab 5 для микробиологии, 490980-0007-000
LM12866
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axiolab 5 для светлого поля и поляризации в отраженном свете, 490980-0025-000
LM12859
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axiolab 5 для цитологии, 490980-0006-000
LM12867
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axiolab 5 поляризация в проходящем свете, 490980-0020-000
LM12854
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axiolab 5 поляризация в проходящем свете, 490980-0021-000
LM12855
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axiolab 5 поляризация в проходящем свете, 490980-0023-000
LM12857
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axiolab 5 простая поляризация в проходящем свете, 490980-0022-000
LM12856
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axiolab 5 светлое и темное поле, 490980-0026-000
LM12858
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axiolab 5 светлое и темное поле, 490980-0027-000
LM12860
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axiolab 5 светлое и темное поле, 490980-0028-000
LM12861
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axiolab 5 светлое поле в проходящем свете, 490980-0001-000
LM12862
по запросу по запросу   под заказ
Микроскоп ZEISS Axiolab 5 светлое поле, эпифлюоресценция, 490980-0003-000
LM12869
по запросу по запросу   под заказ