Микроскопы электронные Himera сканирующие (СЭМ, SEM) напольные
| Розничная цена без НДС | Оптовая цена без НДС | Срок поставки | |
|---|---|---|---|
| по запросу | по запросу | под заказ |
Микроскоп электронный сканирующий Himera EM50, катод Шоттки, напольный
Микроскоп электронный сканирующий Himera EM50 напольный, катод Шоттки - высокоразрешающий СЭМ с технологией туннелирования электронного пучка (SuperTunnel) низким уровнем аберраций и не иммерсионными линзами. Конструкция электронной колонны Dr.Focal EM50 позволяет получать изображения чувствительных к пучку образцов (в том числе магнитных) при низком ускоряющем напряжении с высоким разрешением. Интуитивно понятный интерфейс программного обеспечения электронного микроскопа Dr.Focal EM50, оптическая навигации, автоматические функции позволяют быстро начать работать на нем даже начинающим пользователям и быстро получать изображения с высоким разрешением.
- Высокое разрешение при низких ускоряющих напряжениях
- Электромагнитный модульный объектив улучшает возможность получения изображений при низких укоряющих напряжениях и позволяет работать с намагниченными образцами
- Высоковольтная технология туннелирования (SuperTunnel) улучшает разрешение при низком ускоряющем напряжении, благодаря возможности поддерживать высокую энергию пучка без накопления пространственного заряда
- Водяное охлаждение объективной линзы для стабильной, надёжной, воспроизводимой работы объективной линзы
- 6-ти щелевая апертурная, магнитно отклоняемая, диафрагма с полностью автоматическим управлением без необходимости механической подстройки позволяет добиваться высокого разрешения и одновременно делает возможным анализ при больших пучках, быстро переключаясь между аналитическим и высоко-разрешающим режимами.
Технические характеристики:
|
Разрешение |
0,9 нм при 15 кВ (SE) 1,3 нм при 1 кВ (SE) 0,8 нм при 30 кВ (STEM) |
|
Увеличение |
1-2 500 000x |
|
Ускоряющее напряжение |
20 В ~ 30 кВ |
|
Детекторы |
Эверхарт-Торнли (ETD) Внутрилинзовый Inlense SE детектор вторичных электронов |
|
Опционально: Детектор обратно-рассеянных электронов (BSED), STEM детектор для работы на «просвет», EDS, EBSD, EBIC, CL, EBL, Beam Blanker, шлюз, двойная система торможения пучка электронов на столике, трэкбол, панель управления основными настройками, зашита от механических помех и электромагнитных полей и др. | |
|
Вакуумная система |
Полностью автоматическая, безмасляная |
|
Камера |
Навигационная камера |
|
ИК-камера | |
|
Столик образцов |
5-ти осевой автоматический, опционально extra-large камера |
|
Диапазон перемещений |
X: 125 мм |
|
Y: 125 мм | |
|
Z: 50 мм | |
|
R: 360° | |
|
T: -10° ~ +90° |
Вы можете купить микроскоп электронный сканирующий Himera EM50, катод Шоттки, напольный в Москве в компании Лабтех по наименьшей цене.