Электронные микроскопы JEOL
История компании JEOL:
JEOL (Japan Electron Optics Laboratory) — ведущий японский производитель научного оборудования, основанный в 1949 году. Компания специализируется на электронных микроскопах, масс-спектрометрах, спектроскопах ЯМР и другом аналитическом оборудовании
1949 –
Основание компании в Митаке (Токио),
выпуск первого просвечивающего
электронного микроскопа.
1961 – Переименование в JEOL Ltd. и выход на международный рынок.
1966 – Разработка первого сканирующего электронного микроскопа.
1976 – Первая в мире микрофотография атомной структуры, сделанная на микроскопе JEOL.
2014 – Создание микроскопа JEM-ARM300F с атомным разрешением (0,05 нм).
2020-е – Внедрение ИИ и 3D-визуализации в аналитические системы.
Компания остается одним из лидеров в производстве электронных микроскопов.
История электронной микроскопии
Электронная микроскопия зародилась в 1930-х благодаря работам Эрнста Руски и Макса Кнолля, создавших первый просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ). В 1938 году Siemens выпустил первый коммерческий ПЭМ.
Основные этапы:
1924 – Луи де Бройль теоретически обосновал волновую природу электронов.
1931 – Руска и Кнолль сконструировали прототип ПЭМ.
1938 – Манфред фон Арденне разработал сканирующий электронный микроскоп (СЭМ).
1965 – Появление STEM (сканирующая просвечивающая микроскопия).
1980-е – Развитие коррекции аберраций, повышение разрешения до атомного уровня.
2018 – Рекордное разрешение 0.039 нм (США).
Типы электронных микроскопов:
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ, SEM):
Принцип работы: Электронный зонд сканирует поверхность, регистрируя вторичные, обратно-рассеянные электроны.
Применение: 3D-визуализация поверхности, анализ микроструктур.
Разрешение: 1–20 нм (зависит от энергии пучка).
Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ, TEM):
Принцип работы: Электронный пучок проходит через ультратонкий образец (<100 нм), формируя изображение на детекторе.
Применение: Изучение кристаллической структуры, наночастиц, биологических объектов.
Разрешение: До 0.05 нм (современные модели с коррекцией аберраций).
Сканирующий просвечивающий микроскоп (STEM):
Гибрид ПЭМ и СЭМ: Точечное сканирование тонкого образца с детектированием прошедших электронов.
Преимущества: Возможность химического анализа (EDX) с высокимразрешением.
Сканирующий электронный микроскоп JEOL (СЭМ, SEM):
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ, SEM) — это прибор, позволяющий получать изображения поверхности образцов с высоким разрешением (до 1–20 нм) и большой глубиной резкости. В отличие от оптических микроскопов, СЭМ использует пучок электронов, что позволяет изучать объекты на наноуровне.
Принцип работы СЭМ:
Основные компоненты микроскопа:
Электронная пуша (катод):
Термоэмиссионные (вольфрамовые или гексаборид-лантановые катоды).
Полевая эмиссия (FEG — Field Emission Gun), обеспечивающая более яркий и стабильный пучок.
Система электромагнитных линз:
Фокусирует электронный пучок до диаметра 1–10 нм
Сканирующие катушки:
Отклоняют пучок по точкам образца (растр).
Детекторы вторичных и отраженных электронов:
- Вторичные электроны (SE) — дают информацию о рельефе поверхности.
- Обратно-рассеянные электроны (BSE) — зависят от атомного номера вещества, позволяют анализировать состав.
Вакуумная система:
Исключает рассеяние электронов на молекулах воздуха.
Как формируется изображение?
Электронный пучок сканирует поверхность образца построчно.
При взаимодействии с образцом возникают:
- Вторичные электроны (низкой энергии, выбитые из атомов).
- Обратно-рассеянные электроны (высокой энергии, отраженные от ядер атомов).
Рентгеновское излучение (для элементного анализа, EDX).
Детекторы улавливают сигналы и преобразуют их в изображение.
Разрешение зависит от:
- Диаметра электронного зонда (может достигать 0,4 нмв продвинутых моделях).
- Энергии пучка (обычно 1–30 кэВ).
Области применения СЭМ JEOL:
Материаловедение и металлургия:
Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) JEOL - это аналитические инструменты для исследования в области материаловедения и металлургии. Благодаря высокому разрешению, многорежимности и аналитических возможностей, эти приборы позволяют получать информацию о микроструктуре, составе и свойствах материалов.
Преимущества СЭМ JEOL для металлургии и материаловедения:
Высокое пространственное разрешение:
- Возможность визуализации структур с разрешением до 0,4 нм (в моделях с коррекцией аберраций).
- Исследование субмикронных и наноразмерных особенностей структуры материалов.
Многорежимность работы:
- Стандартный режим вторичных электронов (SE) для топографии поверхности.
- Режим обратнорассеянных электронов (BSE) для контраста по составу.
- Режим просвечивающей растровой электронной микроскопии (ПРЭМ/STEM).
Комплексный аналитический функционал:
- Энергодисперсионная спектроскопия (EDS) для элементного анализа.
- Дифракция обратнорассеянных электронов (EBSD) для кристаллографических исследований.
- Катодолюминесценция для анализа полупроводниковых материалов.
Применение в современных металлургических исследованиях:
- Исследование высокопрочных сталей: визуализация сложной многофазной структуры, картирование распределения легирующих элементов, анализ выделений карбидов и нитридов.
- Исследование алюминиевых сплавов: изучение процессов старения, анализ распределения интерметаллидных фаз, характеристика структуры после различных видов обработки.
- Разработка жаропрочных сплавов: исследование механизмов упрочнения, анализ стабильности структуры при высоких температурах, изучение процессов диффузии.
Особенности современных моделей JEOL для металлургии:
Модель JEOL JSM-IT810: разрешение до 0,8 нм при 15 кВ, автоматизированная система юстировки, расширенные возможности для EBSD анализа.
Практические рекомендации по работе:
- Подготовка образцов: оптимальные методы полировки для разных материалов, особенности подготовки для EBSD анализа, методы контрастирования микроструктуры.
- Оптимизация параметров: выбор ускоряющего напряжения, настройка тока зонда, оптимизация условий детектирования.
- Обработка результатов: количественный анализ микроструктуры, статистическая обработка данных EBSD, интерпретация спектров EDS.
Сканирующие электронные микроскопы JEOL это незаменимый инструмент для современных металлургических исследований и промышленного контроля аналитические возможности которых, позволяют решать задачи - от фундаментальных исследований до практических в металлургическом производстве.
Биология и медицина:
Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) JEOL применяются в биомедицинских исследованиях для изучения биологических структур на наноуровне.
Уникальные возможности СЭМ JEOL для биомедицины:
Технологические преимущества:
- Разрешение до 1 нм в режиме высокого вакуума.
- Режим низкого вакуума (LV-SEM) для деликатных образцов.
- Криогенные технологии (крио-СЭМ) для исследования нативных структур.
- Детекторы вторичных и обратно-рассеянных электронов.
Специализированные решения:
- Системы автоматической загрузки биологических образцов.
- Напольные модели с повышенной стабильностью.
- Интеграция с элементным анализом (EDS).
Передовые методики исследований:
- Крио-СЭМ технологии: замораживание образцов в жидком азоте, исследование гидратированных структур, сохранение нативной архитектуры.
- Корреляционная микроскопия: интеграция со световой микроскопией, сочетание с флуоресцентными методами, 3D-реконструкция биологических объектов.
- In-situ эксперименты: наблюдение динамических процессов, исследование реакции на лекарственные препараты, анализ клеточных реакций в реальном времени.
Специализированные модели JEOL для биомедицины:
JEOL JSM-IT510: разрешение 3,0 нм, режим низкого вакуума, автоматизированная система настройки.
Практические аспекты работы:
Подготовка образцов:
- Фиксация.
- Обезвоживание (этаноловый ряд).
- Криофикcация для нативных структур.
- Напыление проводящих покрытий (золото, углерод).
Оптимизция параметров:
- Низкие ускоряющие напряжения (1-5 кВ).
- Минимизация электронного повреждения.
- Подбор детекторов для разных задач.
Обработка данных:
- 3D-реконструкция поверхностей.
- Количественный морфометрический анализ.
- Статистическая обработка структурных параметров.
Примеры практического применения:
Вирусология: исследование морфологии вирусов, анализ взаимодействия с клетками-хозяевами, разработка вакцин и противовирусных препаратов.
Нейробиология: визуализация синаптических контактов, исследование аксонального транспорта, анализ нейродегенеративных изменений, оценка биосовместимости, исследование клеточного ответа на имплантаты, разработка скаффолдов для тканевой инженерии.
Сканирующие электронные микроскопы JEOL в биомедицинских исследованиях, позволяют:
- Получать высокодетализированные изображения биологических структур.
- Проводить комплексный анализ на субклеточном уровне.
- Разрабатывать инновационные диагностические и терапевтические подходы.
Современные технологии JEOL обеспечивают:
- Минимальное повреждение образцов.
- Максимальную информативность исследований.
- Интеграцию с другими аналитическими методами.
Нанотехнологии и полупроводники:
Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) JEOL применяются в исследованиях и производстве наноматериалов и полупроводниковых устройств. Они позволяют решать задачи контроля качества, анализа структуры и оптимизации технологических процессов.
Высокое разрешение и точность:
- Разрешение до 0,8 нм (модели с полевой эмиссией, например, JSM-IT810) позволяет изучать наноструктуры на атомарном уровне.
- Режим просвечивающей растровой электронной микроскопии (STEM) обеспечивает анализ тонких пленок и наночастиц с разрешением до 1 нм.
Элементный и структурный анализ:
- Энергодисперсионная спектроскопия (EDS): определение химического состава нанообъектов (от бора до урана).
- Дифракция обратно-рассеянных электронов (EBSD): изучение кристаллографической ориентации в полупроводниковых материалах.
Катодолюминесценция: анализ дефектов и примесей в полупроводниках
Гибкость подготовки образцов:
- Режим низкого вакуума (LV-SEM) для исследования непроводящих материалов без напыления проводящего слоя.
- Криогенные технологии для изучения чувствительных к электронному пучку наноструктур.
Исследование наноматериалов: углеродные нанотрубки и графен, визуализация дефектов структуры и морфологии, анализ распределения нанотрубок в композитах, наночастицы металлов и оксидов, определение размера, формы и агрегации частиц, исследование каталитических свойств (например, платиновые наночастицы в топливных элементах).
Контроль качества микросхем: инспекция фотомасок и литографических структур,обнаружение дефектов (трещины, короткие замыкания).
Анализ тонких пленок: измерение толщины и однородности покрытий, изучение интерфейсов в многослойных структурах.
Разработка новых материалов: полупроводники A3B5 исследование эпитаксиальных слоев для оптоэлектроники, пьезоэлектрические материалы анализ доменной структуры и дефектов.
СЭМ
JEOL — это незаменимый инструмент для
нанотехнологий и полупроводниковой
промышленности, обеспечивающий:
- Атомное
разрешение для
изучения наноструктур.
- Многорежимный
анализ (EDS,
EBSD, катодолюминесценция).
- Интеграцию
с производственными процессами для
контроля качества.
Геология и минералогия:
Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) JEOL стали незаменимым инструментом в современных геологических и минералогических исследованиях, обеспечивая уникальные возможности для изучения состава, структуры и генезиса горных пород и минералов.
Преимущества СЭМ JEOL для геологических исследований:
Высокотехнологичные решения:
- Разрешение до 1 нм для детального изучения микроструктур.
- Режимы низкого вакуума (LV-SEM) для анализа непроводящих образцов.
- Комплексная элементная микроаналитическая система (EDS).
- Детекторы обратно-рассеянных электронов для контраста по составу.
Специализированные возможности:
- Автоматизированное картирование элементного состава.
- Криогенные технологии для исследования влажных образцов.
- 3D-реконструкция микроструктур горных пород.
Специализированные модели JEOL для геологии:
JEOL JSM-IT810: разрешени 0,8 нм при 15 кВ, большая камера образцов (до 200 мм), интегрированная система EDS и EBSD.
Практические аспекты работы:
Подготовка образцов:
- Изготовление полированных шлифов.
- Углеродное напыление для непроводящих образцов.
- Специальные методы подготовки пористых материалов.
Оптимизация параметров:
- Выбор ускоряющего напряжения (5-20 кВ).
- Настройка тока зонда для разных задач.
- Оптимизация детекторов для конкретных минералов.
Обработка данных:
- Количественный минералогический анализ.
- Построение элементных карт распределения.
- 3D-моделирование порового пространства.
Примеры практического применения:
- Рудная геология: исследование форм нахождения благородных металлов, анализ ассоциаций рудных минералов, определение последовательности выделения минералов.
- Нефтяная геология: изучение порового пространства коллекторов, анализ глинистых минералов, исследование кернового материала.
- Инженерная геология: оценка микротрещиноватости пород, анализ измененных зон разломов, изучение глинистых прослоев.
Сканирующие электронные микроскопы JEOL предоставляют геологам и минералогам:
Беспрецедентные возможности для микроанализа.
Современные технологии JEOL позволяют:
- Получать высококачественные изображения микроструктур.
- Исследовать сложные геологические объекты.
Криминалистика:
Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) JEOL используются в криминалистике и археологии, позволяя исследовать микро- и наноструктуры с высокой точностью.
Возможности СЭМ JEOL для криминалистики:
Высокое разрешение и детализация:
- Разрешение до 0,7 нм (в моделях с полевой эмиссией, например, JSM-IT810) позволяет изучать мельчайшие детали, такие как следы инструментов, волокна или структуры.
- Режим низкого вакуума (LV-SEM) позволяет анализировать непроводящие материалы (например, керамику, ткани) без напыления проводящего слоя.
Элементный и структурный анализ:
- Энергодисперсионная спектроскопия (EDS): определение химического состава микрочастиц (например, следов пороха, пигментов в красках).
- Дифракция обратнорассеянных электронов (EBSD): изучение кристаллической структуры металлических артефактов или следов обработки.
- Катодолюминесценция: анализ минерального состава керамики или камней.
3D-визуализация и автоматизация:
- Функция Live 3D (в JSM-IT710HR) создает трехмерные модели поверхности, что полезно для реконструкции следов или повреждений.
- Автоматическая настройка параметров ускоряет рутинные исследования, например, анализ множества волокон или частиц.
Применение в криминалистике:
Исследование вещественных доказательств:
- Анализ волокон: Определение типа ткани, следов износа или красителей.
- Изучение следов оружия: Микроструктура пуль, гильз или следов взлома.
- Токсикология: Обнаружение микрочастиц ядов или наркотиков в биологических образцах.
Баллистика и трасология:
- Идентификация уникальных царапин на пулях или гильзах.
- Анализ следов инструментов (например, отмычек или ломиков).
Криминалистическая биология:
- Исследование волос, перьев или пыльцы для установления места преступления.
- Анализ повреждений тканей (например, следов укусов или ран).
СЭМ
JEOL предоставляют криминалистам и
археологам мощные инструменты для:
- Детального
анализа микро-
и наноструктур.
- Точного
определения состава материалов.
- 3D-реконструкции объектов.
Преимущества и ограничения СЭМ:
Преимущества: высокое разрешение (до 1 нм), большая глубина резкости (3D-эффект), возможность элементного анализа (EDX), широкий диапазон увеличений (от 10x до 1 000 000x).
Ограничения: требуется проводящее покрытие для непроводящих образцов (напыление золота или углерода), образцы должны быть вакуум-устойчивыми (не подходит для жидкостей без крио-подготовки), высокая стоимость оборудования и обслуживания.
Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) JEOL:
Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ, TEM —Transmission Electron Microscope) — это мощный инструмент для исследования структуры материалов на атомном уровне. Компания JEOL (Япония) — один из мировых лидеров в производстве ПЭМ, выпускающий приборы с 1949 года.
Принцип работы ПЭМ:
Ключевые компоненты ПЭМ JEOL:
Электронная пушка:
- Термоэмиссионные катоды (вольфрам, LaB₆) или холодные/термополевые катоды (FEG), обеспечивающие высокую яркость пучка.
- Ускоряющее напряжение: 80–300 кВ (зависит от модели).
Система электромагнитных линз:
- Фокусирует электронный пучок до диаметра менее 0.1 нм (в моделях с коррекцией аберраций, например, JEM-ARM300F2).
Образец:
Должен быть очень тонким (<100 нм), чтобы пропускать электроны.
Детекторы:
- Флуоресцентный экран/ПЗС-камера — для формирования изображения.
- Энергодисперсионный спектрометр (EDS) — для элементного анализа.
- Спектрометр потерь энергии электронов (EELS) — для изучения химических связей.
Как формируется изображение?
Электроны ускоряются и фокусируются в узкий пучок.
Пучок проходит через образец, где часть электронов рассеивается или поглощается.
Оставшиеся электроны формируют изображение на детекторе, отражающее:
- Толщину и плотность материала (контраст поглощения).
- Кристаллическую структуру (дифракционные картины).
- Атомное расположение (врежиме высокого разрешения, HRTEM).
Разрешение:
До 0.05 нм (в моделях с коррекцией аберраций, например, JEM-ARM300F2).
Области применения ПЭМ JEOL:
Материаловедение:
Просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ) JEOL представляют собой мощные аналитические инструменты для материаловедения. Эти приборы обеспечивают разрешение до атомарного уровня, что делает их незаменимыми для исследования структуры и состава материалов.
Возможности ПЭМ JEOL для материаловедения:
Технические преимущества:
- Разрешение до 0.05 нм (в моделях с коррекцией аберраций).
- Ускоряющее напряжение от 80 до 300 кВ.
- Интегрированные системы микроанализа (EDS, EELS).
- Режимы работы: TEM, STEM, дифракция.
Уникальные особенности:
- Технология Cold FEG для стабильного электронного пучка.
- Системы автоматической юстировки.
- Возможность in-situ экспериментов.
Основные направления применения:
- Исследование металлов и сплавов:анализ дислокаций и дефектов кристаллической решетки, изучение границ зерен и фазовых превращений, исследование механизмов упрочнения.
- Наноструктурированные материалы: характеристика наночастиц и нанопористых структур, исследование углеродных наноматериалов, анализ тонких пленок и многослойных структур.
- Полупроводниковые
материалы:контроль
качества эпитаксиальных слоев,
исследование дефектов в кристаллах,
анализ интерфейсов в гетероструктурах.
- Функциональные материалы: исследование сегнетоэлектриков и пьезоэлектриков, анализ сверхпроводников, изучение каталитических материалов.
Передовые методики исследований:
Аналитические методы:
- Энергодисперсионная спектроскопия (EDS) для элементного анализа.
- Электронная энергетическая потеря спектроскопия (EELS).
- Дифракционный анализ нанообластей (NBD).
Специальные техники:
- Томография для 3D реконструкции структуры.
- In-situ исследования при нагреве и деформации.
- Голография электронных волн.
Примеры моделей JEOL для материаловедения:
- JEOL JEM-ARM300F: разрешение 0.05 нм, коррекция аберраций, идеален для атомарных исследований.
- JEOL JEM-F200: разрешение 0.1 нм, двойная система EDS, автоматическая загрузка образцов.
- JEOL JEM-1400Flash: разрешение 0.2 нм, простота эксплуатации, экономичное решение.
Практические аспекты работы:
- Подготовка образцов:ультратонкие срезы (<100 нм), ионное и электрополирование, FIB-подготовка для site-specific анализа.
- Оптимизация параметров:выбор ускоряющего напряжения, настройка контраста, оптимизация тока зонда.
- Обработка данных: количественный анализ изображений, обработка дифракционных данных, 3D реконструкция структур.
Примеры исследований:
- Исследование высокопрочных сталей: анализ дислокационных структур, изучение наноразмерных выделений, исследование механизмов упрочнения.
- Разработка новых катализаторов: характеристика наночастиц металлов, исследование носителей катализаторов, анализ структурно-чувствительных свойств.
- Изучение функциональных оксидов: анализ дефектов структуры, исследование доменных границ, характеристика интерфейсов.
Биология и медицина
Просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ) JEOL применяются в биомедицинских исследованиях, для изучения ультраструктуры биологических объектов.
Уникальные возможности ПЭМ JEOL для биомедицины:
Технологические преимущества:
- Разрешение до 0.1 нм в моделях высокого класса.
- Ускоряющее напряжение 80-300 кВ с регулируемой интенсивностью.
- Интегрированные криосистемы для биологических образцов.
- Автоматизированные системы юстировки и фокусировки.
Специализированные решения:
- Режим крио-ПЭМдля нативных образцов.
- Технология Low Dose для минимизации радиационных повреждений.
- Системы томографической реконструкции 3D структур.
Основные направления применения:
Клеточная биология: визуализация органелл и цитоскелета, исследование мембранных структур, анализ межклеточных контактов.
Вирусология: детальное
изучение структуры
вирусов, исследование процессов
инфицирования, разработка вакцин и
противовирусных препаратов.
Нейробиология: анализ синаптических структур, исследование аксонального транспорта, изучение нейродегенеративных изменений.
Медицинские исследования: диагностика клеточных патологий, анализ действия лекарственных препаратов.
Передовые методики исследований:
- Крио-электронная микроскопия:технология витрификации образцов, исследование макромолекулярных комплексов, анализ мембранных белков в нативном состоянии.
- Электронная томография: 3D реконструкция клеточных структур, изучение пространственной организации органелл, анализ изменений при патологиях.
Специализированные модели JEOL для биомедицины:
- JEOL JEM-120i.
- JEOL JEM-1400Flash.
- JEOL JEM-2100Plus: разрешение 0.14 нм, усовершенствованная криосистема, оптимизирован для биологических образцов.
Практические аспекты работы:
- Подготовка образцов: методы фиксации (глутаральдегид, OsO4), обезвоживание и заливка в смолы, ультратомия для получения срезов, отрицательное контрастирование для вирусов.
- Оптимизация параметров: режим Low Dose для чувствительных образцов, настройка контраста и разрешения, выборускоряющего напряжения.
Примеры практического применения:
Исследование вирусов: структурный анализ SARS-CoV-2, изучение механизмов проникновения в клетку, разработка ингибиторов вирусных белков.
Онкологические исследования: анализ изменений клеточной структуры, исследование апоптоза и некроза, изучение метастазирования.
Нейродегенеративные заболевания: исследование амилоидных фибрилл, анализ синаптических изменений, изучение тау-патологии.
ПЭМ JEOL предоставляют исследователям:
- Разрешение для изучения биологических структур.
- Комплексный аналитический инструментарий.
- Уникальные возможности для медицинских исследований.
Современные технологии JEOL позволяют:
- Получать критически важную информацию о биологических объектах.
- Проводить прецизионные измерения.
- Решать сложные исследовательские задачи.
Для специалистов в области биологии и медицины ПЭМ JEOL открывают новые горизонты в:
- Понимании молекулярных механизмов заболеваний.
- Разработке инновационных лекарств.
- Совершенствовании диагностических методов.
Нанотехнологии
Просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ) JEOL представляют собой незаменимый инструмент для современных нанотехнологических исследований, обеспечивая беспрецедентные возможности визуализации и анализа на атомарном уровне.
Уникальные возможности ПЭМ JEOL для нанотехнологий:
Технические характеристики:
- Разрешение до 0.05 нм (в моделях с коррекцией аберраций).
- Ускоряющее напряжение 80-300 кВ.
- Интегрированные аналитические системы (EDS, EELS).
- Режимы работы: TEM, STEM, дифракция.
Специализированные функции:
- Технология холодной полевой эмиссии (Cold FEG).
- Системы автоматической юстировки и коррекции.
- Возможность in-situ экспериментов.
Основные направления применения:
Исследование углеродных наноматериалов: визуализация дефектов в графене, анализ структуры углеродных нанотрубок, исследование фуллеренов и их производных.
Характеристика наночастиц: определение размера, формы и кристаллической структуры, изучение поверхностных модификаций, анализ агрегации и дисперсности.
Исследование нанопористых материалов: визуализация поровой структуры, анализ распределения активных центров, изучение морфологии поверхности.
Полупроводниковые наноструктуры: контроль качества квантовых точек, исследование гетероструктур, анализ дефектов в нанопроволоках.
Примеры моделей JEOL для нанотехнологий:
- JEOL JEM-F200.
- JEOL JEM-1400Flash.
Практические аспекты работы:
Подготовка образцов: ультратонкие срезы (<100 нм), ионное и электрополирование, FIB-подготовка для site-specific анализа.
Оптимизация параметров: выбор ускоряющего напряжения, настройка контраста, оптимизация тока зонда.
Преимущества ПЭМ JEOL:
-
Рекордное разрешение (до
атомного уровня).
- Гибкость(режимы
TEM, STEM, дифракции).
- Интеграция
с аналитикой (EDS,
EELS).
- Автоматизация.
Производители электронных микроскопов
JEOL (Япония)
Лидер в производстве ПЭМ и СЭМ (модели JEM-ARM300F, JEOL JEM-F200, JSM-IT810)
Thermo Fisher Scientific (США)
Серия Thermo Scientific (например,Talos)
Hitachi (Япония)
SU9000 (сверхвысокое разрешение).
Carl Zeiss (Германия)
Sigma и Merlin, GeminiSEM, Crossbeam для наноисследований.
Вы можете купить электронный микроскоп в Москве в нашей компании по наименьшей цене