Микроскопы электронные сканирующие (СЭМ, SEM) настольные

Цена без НДС Срок поставки
по запросу под заказ

Микроскоп электронный сканирующий NANOS настольный

LM74646

Настольный сканирующий электронный микроскоп Himera Nanos для большого круга применений!

Описание:

СЭМ Himera NANOS — это недорогой настольный сканирующий электронный микроскоп, который обеспечивает быстрые и высококачественные изображенияСЭМ и встроенный элементный анализ. Он подходит для исследований и разработок, образовательных целей и промышленного использования.

SEM Himera NANOS хорошо подходит для выполнения рутинного анализа обычных образцов, наравне с напольным СЭМ. Благодаря стабильности, прочной конструкции и небольшому размеру, его можно использовать в любом лабораторном помещении без специальной инфраструктуры.

Обзор и характеристики СЭМ NANOS:

Высокопроизводительные детекторы

NANOS оснащен стандартно двумя детекторами: вторичных электронов (SE) и обратно-рассеянных электронов (BSD). Высококачественный BSD — это четырехквадрантный детектор, обеспечивающий изображения с высоким разрешением и передачей информации о контрасте элементов. Детектор SE собирает электроны, испускаемые с поверхности образца, что позволяет получать четкие и высокоточные поверхностно-чувствительные изображения. Полученные изображения передают топографическую информацию и обычно обладают более высоким разрешением за счет меньшего объема взаимодействия луча с образцом. Для элементного анализа установлен энергодисперсионный спектрометр (EDS) детектор кремий-дрейфового типа Silicon Drift Detector (SDD), производства того же бренда, что и сам микроскоп. Это позволяет минимизировать срок производства и поставки и проводить анализ на схожем уровне с Bruker, Oxford Instrument, Edax.

Интуитивное управление

Пользовательская платформа Discover делает работу с NANOS простой и понятной, требуя минимального обучения. Простота использования делает его подходящим для операторов любого уровня. NANOS быстро обеспечивает отличные результаты за короткое время.

Легко заменяемый источник электронов

Источник электронов в NANOS — это вольфрамовая нить, управляемая электромагнитными катушками и электростатическими дефлекторами. При использовании опции «эко»-режима срок службы катода может быть увеличен до нескольких сотен часов при сохранении высокого разрешения изображений. Любой пользователь может заменить источник электронов с помощью специального инструмента, что значительно уменьшает время простоя.

Легкость обслуживания

Разработанный с учетом легкости обслуживания, NANOS обладает простой системой «подключи и работай», что обеспечивает быструю установку. Съемные панели, модульные компоненты, одна управляющая плата и небольшое количество движущихся частей сводят требования к обслуживанию к минимуму. Большая часть работ по обслуживанию может выполняться пользователем самостоятельно. Особенностью NANOS является отсутствие движущихся частей внутри вакуумной камеры, что исключает риск загрязнения.

Встроенный элементный анализ

NANOS оснащен интегрированным детектором ЭДС колонна SEM разработана так, чтобы иметь одинаковое оптимальное рабочее расстояние для анализа EDX и высокоразрешающего изображения. Оператор может выбрать анализ ЭДС в точке, линейное сканирование или активировать картирование элементов. Встроенный детектор EDS делает систему независимой от стороннего оборудования и позволяет работать на том же ПК. Также доступна версия NANOS без модуля EDS.

Картирование элементов (EDS mapping)

Элементное картирование отображает все присутствующие в образце элементы и позволяет видеть их в цвете.

Преимущества:

- Высокопроизводительные детекторы вторичных электронов (SE) и четырехквадрантный детектор задних рассеянных электронов (BSE)

- Анализ EDS — точечный анализ, сканирование линий и картирование элементов

- Возможность работы в условиях низкого вакуума, в стандартной комплектации

- Моторизация по осям XY, эвцентрического типа

- Оптимизация работы нити катода

- Напряжение ускорения — 1–20 кВ

- Разрешение менее 8 нм

- Низкие эксплуатационные расходы

Растровый электронный микроскоп Himera Nanos представляет собой современное решение для исследований в области наноматериалов, медицины и других высокотехнологичных областях.

Электронная пушка

Оптимизированный термоэмиссионный источник (вольфрам)

Ускоряющее напряжение

1 кВ ~ 20 кВ

Разрешение

8 нм

Разрешение сохраняемых изображений

4096 х 4096 пикс. (4К)

Детекторы

вторичных электронов SE

обратно-рассеянных электронов BSE

энергодисперсионной спектроскопии EDS

Столик микроскопа 5 осевой

Моторизованный X≥25 мм, Y≥25 мм, Z≥19 мм, ручная (T:-15~ +15/R:360°)

Формат изображений

TIFF, JPG, BMP, PNG

Вакуумный режим

Высокий вакуум, Низкий Вакуум 40 Па

Система энергодисперсионного микроанализа

Площадь детектора 30 мм2

Разрешение лучше 132 эВ

Кремний дрейфовый тип детектора

Полностью встроен в управляющее ПО

Анализ в точке, анализ по линии, «живое» картирование

 Вы можете купить микроскоп электронный сканирующий NANOS настольный в Москве по наименьшей цене