Электронная микроскопия - сканирующие (СЭМ, SEM) и просвечивающие (ПЭМ, TEM) электронные микроскопы Dr. Focal позволяют получить изображение объектов нано-мира с увеличением до 600 000х, при этом помимо формирования непосредственно изображения электронные микроскопы позволяют проводить исследования свойств материалов и получать комплексную картину исследуемого объекта.
Лабтех предлагает весь спектр решений для электронной микроскопии, в том числе:
- Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ, SEM) напольные;
- Сканирующе-просвечивающие электронные микроскопы (СПЭМ, STEM) настольные;
- Расходные материалы и аксессуары для сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии;
- Запчасти и сервис для микроскопов Zeiss, Jeol, FEI, Tescan, Hitachi и других брендов;
Новые микроскопы под брэндом Dr. Focal производятся в дружественных странах, на микроскопы предоставляется гарантия и послепродажное обслуживание.
С новыми сканирующими и просвечивающими, напольными и настольными электронными микроскопами Dr. Focal можно ознакомиться в соответствующих разделах нашего сайта:
- Настольные сканирующе-просвечивающие электронные микроскопы (STEM) ;
- Напольные сканирующие электронные микроскопы (SEM) ;
Возможно дооснащение микроскопов следующими видами детекторами Oxford, Bruker, EDAX:
- Вторичных электронов (SE);
- Обратно-рассеянных электронов (BSE);
- Энерго-дисперсионный спектрометр (EDS);
- Волно-дисперсионный спектрометр (WDS);
- Катод-люминисцентный (CL);
- Сканирующая просвечивающая электронная микроскопия (STEM);
- Тока эмитированного электронным лучом (EBIC);
- Дифрации обратно-рассеянных электронов (EBSD);
По запросу могут быть поставлены иные детекторы и опции. Сотрудники компании с удовольствием проконсультируют по всем имеющимся вопросам и подготовят лучшее решение для Ваших задач.
Спектр задач, решаемых при помощи электронной микроскопии крайне широк:
- Исследование морфологии образцов;
- Изучение фракций и характерных размеров частиц;
- Исследование количественного и качественного состава образцов;
- Построение карты распределения химических элементов по поверхности образцов;
- Определение ориентации кристаллов и типа кристаллической решетки;
- Определение карты токопроводимости поверхности образца;
- Ионное травление и полировка с заданными масками;
- Поиск дислокаций в твердых материалах;
- Исследование взаимодействия химических элементов с живыми организмами;
и многое другое.
В отличие от оптических микроскопов, разрешающая способность которых ограничена соотношением Аббе примерно половиной длины волны (порядка 200 нм), в электронных микроскопах используется пучок электронов, у которых эквивалентная длина волны позволяет достичь на несколько порядков меньшего разрешения (порядка 1-2 нм).
Вы можете купить электронный микроскоп в Москве в нашей компании по наименьшей цене