Электронная микроскопия

Электронная микроскопия - сканирующие (СЭМ, SEM) и просвечивающие (ПЭМ, TEM) электронные микроскопы Dr. Focal позволяют получить изображение объектов нано-мира с увеличением до 600 000х, при этом помимо формирования непосредственно изображения электронные микроскопы позволяют проводить исследования свойств материалов и получать комплексную картину исследуемого объекта.


Лабтех предлагает весь спектр решений для электронной микроскопии, в том числе:

- Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ, SEM) напольные;

- Сканирующе-просвечивающие электронные микроскопы (СПЭМ, STEM) настольные;

- Расходные материалы и аксессуары для сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии;

- Запчасти и сервис для микроскопов Zeiss, Jeol, FEI, Tescan, Hitachi и других брендов;

Новые микроскопы под брэндом Dr. Focal производятся в дружественных странах, на микроскопы предоставляется гарантия и послепродажное обслуживание.

С новыми сканирующими и просвечивающими, напольными и настольными электронными микроскопами Dr. Focal можно ознакомиться в соответствующих разделах нашего сайта:

- Настольные сканирующе-просвечивающие электронные микроскопы (STEM) ;

- Напольные сканирующие электронные микроскопы (SEM) ;

Возможно дооснащение микроскопов следующими видами детекторами Oxford, Bruker, EDAX:

- Вторичных электронов (SE);

- Обратно-рассеянных электронов (BSE);

- Энерго-дисперсионный спектрометр (EDS);

- Волно-дисперсионный спектрометр (WDS);

- Катод-люминисцентный (CL);

- Сканирующая просвечивающая электронная микроскопия (STEM);

- Тока эмитированного электронным лучом (EBIC);

- Дифрации обратно-рассеянных электронов (EBSD);


По запросу могут быть поставлены иные детекторы и опции. Сотрудники компании с удовольствием проконсультируют по всем имеющимся вопросам и подготовят лучшее решение для Ваших задач.

Спектр задач, решаемых при помощи электронной микроскопии крайне широк:

- Исследование морфологии образцов;

- Изучение фракций и характерных размеров частиц;

- Исследование количественного и качественного состава образцов;

- Построение карты распределения химических элементов по поверхности образцов;

- Определение ориентации кристаллов и типа кристаллической решетки;

- Определение карты токопроводимости поверхности образца;

- Ионное травление и полировка с заданными масками;

- Поиск дислокаций в твердых материалах;

- Исследование взаимодействия химических элементов с живыми организмами;

и многое другое.


В отличие от оптических микроскопов, разрешающая способность которых ограничена соотношением Аббе примерно половиной длины волны (порядка 200 нм), в электронных микроскопах используется пучок электронов, у которых эквивалентная длина волны позволяет достичь на несколько порядков меньшего разрешения (порядка 1-2 нм).

Вы можете купить электронный микроскоп в Москве в нашей компании по наименьшей цене