Микроскопы электронные напольные JEOL

Электронные микроскопы JEOL

JEOL (Japan Electron Optics Laboratory) — ведущий японский производитель научного оборудования, основанный в 1949 году. Компания специализируется на электронных микроскопах, масс-спектрометрах, спектроскопах ЯМР и другом аналитическом оборудовании

1949 – Основание компании в Митаке (Токио), выпуск первого просвечивающего электронного микроскопа.

1956 – Создание первого в Японии спектрометра ЯМР.

1961 – Переименование в JEOL Ltd. и выход на международный рынок.

1966 – Разработка первого сканирующего электронного микроскопа.

1976 – Первая в мире микрофотография атомной структуры, сделанная на микроскопе JEOL.

2014 – Создание микроскопа JEM-ARM300F с атомным разрешением (0,05 нм).

2020-е – Внедрение ИИ и 3D-визуализации в аналитические системы.

Компания остается одним из лидеров в производстве электронных микроскопов.

История электронной микроскопии

Электронная микроскопия зародилась в 1930-х благодаря работам Эрнста Руски и Макса Кнолля, создавших первый просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ). В 1938 году Siemens выпустил первый коммерческий ПЭМ.

Основные этапы:

1924 – Луи де Бройль теоретически обосновал волновую природу электронов.

1931 – Руска и Кнолль сконструировали прототип ПЭМ.

1938 – Манфред фон Арденне разработал сканирующий электронный микроскоп (СЭМ).

1965 – Появление STEM (сканирующая просвечивающая микроскопия).

1980-е – Развитие коррекции аберраций, повышение разрешения до атомного уровня.

2018 – Рекордное разрешение 0.039 нм (США). 

Типы электронных микроскопов:

Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ, SEM):

Принцип работы: Электронный зонд сканирует поверхность, регистрируя вторичные, обратно-рассеянные электроны.

Применение: 3D-визуализация поверхности, анализ микроструктур.

Разрешение: 1–20 нм (зависит от энергии пучка).

Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ, TEM):

Принцип работы: Электронный пучок проходит через ультратонкий образец (<100 нм), формируя изображение на детекторе.

Применение: Изучение кристаллической структуры, наночастиц, биологических объектов.

Разрешение: До 0.05 нм (современные модели с коррекцией аберраций).

Сканирующий просвечивающий микроскоп (STEM):

Гибрид ПЭМ и СЭМ: Точечное сканирование тонкого образца с детектированием прошедших электронов.

Преимущества: Возможность химического анализа (EDX) с высокимразрешением.

Сканирующий электронный микроскоп JEOL (СЭМ, SEM): 

Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ, SEM) — это прибор, позволяющий получать изображения поверхности образцов с высоким разрешением (до 1–20 нм) и большой глубиной резкости. В отличие от оптических микроскопов, СЭМ использует пучок электронов, что позволяет изучать объекты на наноуровне.

Принцип работы СЭМ:

Основные компоненты микроскопа:

Электронная пуша (катод):

Термоэмиссионные (вольфрамовые или гексаборид-лантановые катоды).

Полевая эмиссия (FEG — Field Emission Gun), обеспечивающая более яркий и стабильный пучок.

Система электромагнитных линз:

Фокусирует электронный пучок до диаметра 1–10 нм

Сканирующие катушки:

Отклоняют пучок по точкам образца (растр).

Детекторы вторичных и отраженных электронов:

- Вторичные электроны (SE) — дают информацию о рельефе поверхности.

- Обратно-рассеянные электроны (BSE) — зависят от атомного номера вещества, позволяют анализировать состав.

Вакуумная система:

Исключает рассеяние электронов на молекулах воздуха.

Как формируется изображение?

Электронный пучок сканирует поверхность образца построчно.

При взаимодействии с образцом возникают:

- Вторичные электроны (низкой энергии, выбитые из атомов).

- Обратно-рассеянные электроны (высокой энергии, отраженные от ядер атомов).

Рентгеновское излучение (для элементного анализа, EDX).

Детекторы улавливают сигналы и преобразуют их в изображение.

Разрешение зависит от:

- Диаметра электронного зонда (может достигать 0,4 нмв продвинутых моделях).

- Энергии пучка (обычно 1–30 кэВ).

Области применения СЭМ JEOL:

Материаловедение и металлургия:

Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) JEOL - это аналитические инструменты для исследования в области материаловедения и металлургии. Благодаря высокому разрешению, многорежимности и аналитических возможностей, эти приборы позволяют получать информацию о микроструктуре, составе и свойствах материалов. 

Преимущества СЭМ JEOL для металлургии и материаловедения:

Высокое пространственное разрешение:

- Возможность визуализации структур с разрешением до 0,4 нм (в моделях с коррекцией аберраций).

- Исследование субмикронных и наноразмерных особенностей структуры материалов.

Многорежимность работы:

- Стандартный режим вторичных электронов (SE) для топографии поверхности.

- Режим обратнорассеянных электронов (BSE) для контраста по составу.

- Режим просвечивающей растровой электронной микроскопии (ПРЭМ/STEM).

Комплексный аналитический функционал:

- Энергодисперсионная спектроскопия (EDS) для элементного анализа.

- Дифракция обратнорассеянных электронов (EBSD) для кристаллографических исследований.

- Катодолюминесценция для анализа полупроводниковых материалов. 

Применение в современных металлургических исследованиях:

- Исследование высокопрочных сталей: визуализация сложной многофазной структуры, картирование распределения легирующих элементов, анализ выделений карбидов и нитридов.

- Исследование алюминиевых сплавов: изучение процессов старения, анализ распределения интерметаллидных фаз, характеристика структуры после различных видов обработки.

- Разработка жаропрочных сплавов: исследование механизмов упрочнения, анализ стабильности структуры при высоких температурах, изучение процессов диффузии. 

Особенности современных моделей JEOL для металлургии:

Модель JEOL JSM-IT810: разрешение до 0,8 нм при 15 кВ, автоматизированная система юстировки, расширенные возможности для EBSD анализа. 

Практические рекомендации по работе:

- Подготовка образцов: оптимальные методы полировки для разных материалов, особенности подготовки для EBSD анализа, методы контрастирования микроструктуры.

- Оптимизация параметров: выбор ускоряющего напряжения, настройка тока зонда, оптимизация условий детектирования.

- Обработка результатов: количественный анализ микроструктуры, статистическая обработка данных EBSD, интерпретация спектров EDS. 

Сканирующие электронные микроскопы JEOL это незаменимый инструмент для современных металлургических исследований и промышленного контроля аналитические возможности которых, позволяют решать задачи - от фундаментальных исследований до практических в металлургическом производстве. 

Биология и медицина:

Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) JEOL применяются в биомедицинских исследованиях для изучения биологических структур на наноуровне. 

Уникальные возможности СЭМ JEOL для биомедицины:

Технологические преимущества:

- Разрешение до 1 нм в режиме высокого вакуума.

- Режим низкого вакуума (LV-SEM) для деликатных образцов.

- Криогенные технологии (крио-СЭМ) для исследования нативных структур.

- Детекторы вторичных и обратно-рассеянных электронов.

Специализированные решения:

- Системы автоматической загрузки биологических образцов.

- Напольные модели с повышенной стабильностью.

- Интеграция с элементным анализом (EDS). 

Передовые методики исследований:

- Крио-СЭМ технологии: замораживание образцов в жидком азоте, исследование гидратированных структур, сохранение нативной архитектуры.

- Корреляционная микроскопия: интеграция со световой микроскопией, сочетание с флуоресцентными методами, 3D-реконструкция биологических объектов.

- In-situ эксперименты: наблюдение динамических процессов, исследование реакции на лекарственные препараты, анализ клеточных реакций в реальном времени. 

Специализированные модели JEOL для биомедицины:

JEOL JSM-IT510: разрешение 3,0 нм, режим низкого вакуума, автоматизированная система настройки. 

Практические аспекты работы:

Подготовка образцов:

- Фиксация.

- Обезвоживание (этаноловый ряд).

- Криофикcация для нативных структур.

- Напыление проводящих покрытий (золото, углерод).

Оптимизция параметров:

- Низкие ускоряющие напряжения (1-5 кВ).

- Минимизация электронного повреждения.

- Подбор детекторов для разных задач.

Обработка данных:

- 3D-реконструкция поверхностей.

- Количественный морфометрический анализ.

- Статистическая обработка структурных параметров. 

Примеры практического применения:

Вирусология: исследование морфологии вирусов, анализ взаимодействия с клетками-хозяевами, разработка вакцин и противовирусных препаратов.

Нейробиология: визуализация синаптических контактов, исследование аксонального транспорта, анализ нейродегенеративных изменений, оценка биосовместимости, исследование клеточного ответа на имплантаты, разработка скаффолдов для тканевой инженерии. 

Сканирующие электронные микроскопы JEOL в биомедицинских исследованиях, позволяют:

- Получать высокодетализированные изображения биологических структур.

- Проводить комплексный анализ на субклеточном уровне.

- Разрабатывать инновационные диагностические и терапевтические подходы.

Современные технологии JEOL обеспечивают:

- Минимальное повреждение образцов.

- Максимальную информативность исследований.

- Интеграцию с другими аналитическими методами. 

Нанотехнологии и полупроводники:

Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) JEOL применяются в исследованиях и производстве наноматериалов и полупроводниковых устройств. Они позволяют решать задачи контроля качества, анализа структуры и оптимизации технологических процессов.

Высокое разрешение и точность:

- Разрешение до 0,8 нм (модели с полевой эмиссией, например, JSM-IT810) позволяет изучать наноструктуры на атомарном уровне.

- Режим просвечивающей растровой электронной микроскопии (STEM) обеспечивает анализ тонких пленок и наночастиц с разрешением до 1 нм.

Элементный и структурный анализ:

- Энергодисперсионная спектроскопия (EDS): определение химического состава нанообъектов (от бора до урана).

- Дифракция обратно-рассеянных электронов (EBSD): изучение кристаллографической ориентации в полупроводниковых материалах.

 

 

 

 

 

Катодолюминесценция: анализ дефектов и примесей в полупроводниках

Гибкость подготовки образцов:

- Режим низкого вакуума (LV-SEM) для исследования непроводящих материалов без напыления проводящего слоя.

- Криогенные технологии для изучения чувствительных к электронному пучку наноструктур.

Исследование наноматериалов: углеродные нанотрубки и графен, визуализация дефектов структуры и морфологии, анализ распределения нанотрубок в композитах, наночастицы металлов и оксидов, определение размера, формы и агрегации частиц, исследование каталитических свойств (например, платиновые наночастицы в топливных элементах).

Контроль качества микросхем: инспекция фотомасок и литографических структур,обнаружение дефектов (трещины, короткие замыкания).

Анализ тонких пленок: измерение толщины и однородности покрытий, изучение интерфейсов в многослойных структурах.

Разработка новых материалов: полупроводники A3B5 исследование эпитаксиальных слоев для оптоэлектроники, пьезоэлектрические материалы анализ доменной структуры и дефектов.

СЭМ JEOL — это незаменимый инструмент для нанотехнологий и полупроводниковой промышленности, обеспечивающий:
- Атомное разрешение для изучения наноструктур.
- Многорежимный анализ (EDS, EBSD, катодолюминесценция).
- Интеграцию с производственными процессами для контроля качества.

Геология и минералогия:

Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) JEOL стали незаменимым инструментом в современных геологических и минералогических исследованиях, обеспечивая уникальные возможности для изучения состава, структуры и генезиса горных пород и минералов. 

Преимущества СЭМ JEOL для геологических исследований: 

Высокотехнологичные решения:

- Разрешение до 1 нм для детального изучения микроструктур.

- Режимы низкого вакуума (LV-SEM) для анализа непроводящих образцов.

- Комплексная элементная микроаналитическая система (EDS). 

- Детекторы обратно-рассеянных электронов для контраста по составу.

Специализированные возможности:

- Автоматизированное картирование элементного состава.

- Криогенные технологии для исследования влажных образцов.

- 3D-реконструкция микроструктур горных пород. 

Специализированные модели JEOL для геологии:

JEOL JSM-IT810: разрешени 0,8 нм при 15 кВ, большая камера образцов (до 200 мм), интегрированная система EDS и EBSD. 

Практические аспекты работы:

Подготовка образцов:

- Изготовление полированных шлифов.

- Углеродное напыление для непроводящих образцов.

- Специальные методы подготовки пористых материалов.

Оптимизация параметров:

- Выбор ускоряющего напряжения (5-20 кВ).

- Настройка тока зонда для разных задач.

- Оптимизация детекторов для конкретных минералов.

Обработка данных:

- Количественный минералогический анализ.

- Построение элементных карт распределения.

- 3D-моделирование порового пространства. 

Примеры практического применения:

- Рудная геология: исследование форм нахождения благородных металлов, анализ ассоциаций рудных минералов, определение последовательности выделения минералов.

- Нефтяная геология: изучение порового пространства коллекторов, анализ глинистых минералов, исследование кернового материала.

- Инженерная геология: оценка микротрещиноватости пород, анализ измененных зон разломов, изучение глинистых прослоев.

Сканирующие электронные микроскопы JEOL предоставляют геологам и минералогам:

Беспрецедентные возможности для микроанализа.

Современные технологии JEOL позволяют:

- Получать высококачественные изображения микроструктур.

- Исследовать сложные геологические объекты. 

Криминалистика:

Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) JEOL используются в криминалистике и археологии, позволяя исследовать микро- и наноструктуры с высокой точностью.

Возможности СЭМ JEOL для криминалистики:

Высокое разрешение и детализация:

- Разрешение до 0,7 нм (в моделях с полевой эмиссией, например, JSM-IT810) позволяет изучать мельчайшие детали, такие как следы инструментов, волокна или структуры.

- Режим низкого вакуума (LV-SEM) позволяет анализировать непроводящие материалы (например, керамику, ткани) без напыления проводящего слоя.

Элементный и структурный анализ:

- Энергодисперсионная спектроскопия (EDS): определение химического состава микрочастиц (например, следов пороха, пигментов в красках).

- Дифракция обратнорассеянных электронов (EBSD): изучение кристаллической структуры металлических артефактов или следов обработки.

- Катодолюминесценция: анализ минерального состава керамики или камней.

3D-визуализация и автоматизация:

- Функция Live 3D (в JSM-IT710HR) создает трехмерные модели поверхности, что полезно для реконструкции следов или повреждений.

 

 

 

 

 - Автоматическая настройка параметров ускоряет рутинные исследования, например, анализ множества волокон или частиц.

Применение в криминалистике:

Исследование вещественных доказательств:

- Анализ волокон: Определение типа ткани, следов износа или красителей.

- Изучение следов оружия: Микроструктура пуль, гильз или следов взлома.

- Токсикология: Обнаружение микрочастиц ядов или наркотиков в биологических образцах.

Баллистика и трасология:

- Идентификация уникальных царапин на пулях или гильзах.

- Анализ следов инструментов (например, отмычек или ломиков).

Криминалистическая биология:

- Исследование волос, перьев или пыльцы для установления места преступления.

- Анализ повреждений тканей (например, следов укусов или ран).

СЭМ JEOL предоставляют криминалистам и археологам мощные инструменты для:
- Детального анализа микро- и наноструктур.
- Точного определения состава материалов.
- 3D-реконструкции объектов.

Преимущества и ограничения СЭМ:

Преимущества: высокое разрешение (до 1 нм), большая глубина резкости (3D-эффект), возможность элементного анализа (EDX), широкий диапазон увеличений (от 10x до 1 000 000x).

Ограничения: требуется проводящее покрытие для непроводящих образцов (напыление золота или углерода), образцы должны быть вакуум-устойчивыми (не подходит для жидкостей без крио-подготовки), высокая стоимость оборудования и обслуживания.

Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) JEOL:

Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ, TEM —Transmission Electron Microscope) — это мощный инструмент для исследования структуры материалов на атомном уровне. Компания JEOL (Япония) — один из мировых лидеров в производстве ПЭМ, выпускающий приборы с 1949 года.

Принцип работы ПЭМ:

Ключевые компоненты ПЭМ JEOL:

Электронная пушка:

- Термоэмиссионные катоды (вольфрам, LaB₆) или холодные/термополевые катоды (FEG), обеспечивающие высокую яркость пучка.

- Ускоряющее напряжение: 80–300 кВ (зависит от модели).

Система электромагнитных линз:

- Фокусирует электронный пучок до диаметра менее 0.1 нм (в моделях с коррекцией аберраций, например, JEM-ARM300F2).

Образец:

Должен быть очень тонким (<100 нм), чтобы пропускать электроны.

Детекторы:

- Флуоресцентный экран/ПЗС-камера — для формирования изображения.

- Энергодисперсионный спектрометр (EDS) — для элементного анализа.

- Спектрометр потерь энергии электронов (EELS) — для изучения химических связей.

Как формируется изображение?

Электроны ускоряются и фокусируются в узкий пучок.

Пучок проходит через образец, где часть электронов рассеивается или поглощается.

Оставшиеся электроны формируют изображение на детекторе, отражающее:

- Толщину и плотность материала (контраст поглощения).

- Кристаллическую структуру (дифракционные картины).

- Атомное расположение (врежиме высокого разрешения, HRTEM).

Разрешение:

До 0.05 нм (в моделях с коррекцией аберраций, например, JEM-ARM300F2).

Области применения ПЭМ JEOL:

Материаловедение:

Просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ) JEOL представляют собой мощные аналитические инструменты для материаловедения. Эти приборы обеспечивают разрешение до атомарного уровня, что делает их незаменимыми для исследования структуры и состава материалов.

Возможности ПЭМ JEOL для материаловедения:

Технические преимущества:

- Разрешение до 0.05 нм (в моделях с коррекцией аберраций).

- Ускоряющее напряжение от 80 до 300 кВ.

- Интегрированные системы микроанализа (EDS, EELS).

- Режимы работы: TEM, STEM, дифракция.

Уникальные особенности:

- Технология Cold FEG для стабильного электронного пучка.

- Системы автоматической юстировки.

- Возможность in-situ экспериментов.

Основные направления применения:

- Исследование металлов и сплавов:анализ дислокаций и дефектов кристаллической решетки, изучение границ зерен и фазовых превращений, исследование механизмов упрочнения.

- Наноструктурированные материалы: характеристика наночастиц и нанопористых структур, исследование углеродных наноматериалов, анализ тонких пленок и многослойных структур.

- Полупроводниковые материалы:контроль качества эпитаксиальных слоев, исследование дефектов в кристаллах, анализ интерфейсов в гетероструктурах.

- Функциональные материалы: исследование сегнетоэлектриков и пьезоэлектриков, анализ сверхпроводников, изучение каталитических материалов.

Передовые методики исследований:

Аналитические методы:

- Энергодисперсионная спектроскопия (EDS) для элементного анализа.

- Электронная энергетическая потеря спектроскопия (EELS).

- Дифракционный анализ нанообластей (NBD).

Специальные техники:

- Томография для 3D реконструкции структуры.

- In-situ исследования при нагреве и деформации.

- Голография электронных волн.

Примеры моделей JEOL для материаловедения:

- JEOL JEM-ARM300F: разрешение 0.05 нм, коррекция аберраций, идеален для атомарных исследований.

- JEOL JEM-F200: разрешение 0.1 нм, двойная система EDS, автоматическая загрузка образцов.

- JEOL JEM-1400Flash: разрешение 0.2 нм, простота эксплуатации, экономичное решение.

Практические аспекты работы:

- Подготовка образцов:ультратонкие срезы (<100 нм), ионное и электрополирование, FIB-подготовка для site-specific анализа.

- Оптимизация параметров:выбор ускоряющего напряжения, настройка контраста, оптимизация тока зонда.

- Обработка данных: количественный анализ изображений, обработка дифракционных данных, 3D реконструкция структур.

Примеры исследований:

- Исследование высокопрочных сталей: анализ дислокационных структур, изучение наноразмерных выделений, исследование механизмов упрочнения.

- Разработка новых катализаторов: характеристика наночастиц металлов, исследование носителей катализаторов, анализ структурно-чувствительных свойств.

- Изучение функциональных оксидов: анализ дефектов структуры, исследование доменных границ, характеристика интерфейсов.

Биология и медицина

Просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ) JEOL применяются в биомедицинских исследованиях, для изучения ультраструктуры биологических объектов.

Уникальные возможности ПЭМ JEOL для биомедицины:

Технологические преимущества:

- Разрешение до 0.1 нм в моделях высокого класса.

- Ускоряющее напряжение 80-300 кВ с регулируемой интенсивностью.

- Интегрированные криосистемы для биологических образцов.

- Автоматизированные системы юстировки и фокусировки.

Специализированные решения:

- Режим крио-ПЭМдля нативных образцов.

- Технология Low Dose для минимизации радиационных повреждений.

- Системы томографической реконструкции 3D структур.

Основные направления применения:

Клеточная биология: визуализация органелл и цитоскелета, исследование мембранных структур, анализ межклеточных контактов.

Вирусология: детальное изучение структуры вирусов, исследование процессов инфицирования, разработка вакцин и противовирусных препаратов.

Нейробиология: анализ синаптических структур, исследование аксонального транспорта, изучение нейродегенеративных изменений.

Медицинские исследования: диагностика клеточных патологий, анализ действия лекарственных препаратов.

Передовые методики исследований:

- Крио-электронная микроскопия:технология витрификации образцов, исследование макромолекулярных комплексов, анализ мембранных белков в нативном состоянии.

- Электронная томография: 3D реконструкция клеточных структур, изучение пространственной организации органелл, анализ изменений при патологиях.

Специализированные модели JEOL для биомедицины: 

- JEOL JEM-120i.

- JEOL JEM-1400Flash.

- JEOL JEM-2100Plus: разрешение 0.14 нм, усовершенствованная криосистема, оптимизирован для биологических образцов.

Практические аспекты работы:

- Подготовка образцов: методы фиксации (глутаральдегид, OsO4), обезвоживание и заливка в смолы, ультратомия для получения срезов, отрицательное контрастирование для вирусов.

- Оптимизация параметров: режим Low Dose для чувствительных образцов, настройка контраста и разрешения, выборускоряющего напряжения.

Примеры практического применения:

Исследование вирусов: структурный анализ SARS-CoV-2, изучение механизмов проникновения в клетку, разработка ингибиторов вирусных белков.

Онкологические исследования: анализ изменений клеточной структуры, исследование апоптоза и некроза, изучение метастазирования.

Нейродегенеративные заболевания: исследование амилоидных фибрилл, анализ синаптических изменений, изучение тау-патологии.

ПЭМ JEOL предоставляют исследователям:

- Разрешение для изучения биологических структур.

- Комплексный аналитический инструментарий.

- Уникальные возможности для медицинских исследований.

Современные технологии JEOL позволяют:

- Получать критически важную информацию о биологических объектах.

- Проводить прецизионные измерения.

- Решать сложные исследовательские задачи.

Для специалистов в области биологии и медицины ПЭМ JEOL открывают новые горизонты в:

- Понимании молекулярных механизмов заболеваний.

- Разработке инновационных лекарств.

- Совершенствовании диагностических методов. 

Нанотехнологии

Просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ) JEOL представляют собой незаменимый инструмент для современных нанотехнологических исследований, обеспечивая беспрецедентные возможности визуализации и анализа на атомарном уровне.

Уникальные возможности ПЭМ JEOL для нанотехнологий:

Технические характеристики:

- Разрешение до 0.05 нм (в моделях с коррекцией аберраций).

- Ускоряющее напряжение 80-300 кВ.

- Интегрированные аналитические системы (EDS, EELS).

- Режимы работы: TEM, STEM, дифракция.

Специализированные функции:

- Технология холодной полевой эмиссии (Cold FEG).

- Системы автоматической юстировки и коррекции.

- Возможность in-situ экспериментов.

Основные направления применения:

Исследование углеродных наноматериалов: визуализация дефектов в графене, анализ структуры углеродных нанотрубок, исследование фуллеренов и их производных.

Характеристика наночастиц: определение размера, формы и кристаллической структуры, изучение поверхностных модификаций, анализ агрегации и дисперсности.

Исследование нанопористых материалов: визуализация поровой структуры, анализ распределения активных центров, изучение морфологии поверхности.

Полупроводниковые наноструктуры: контроль качества квантовых точек, исследование гетероструктур, анализ дефектов в нанопроволоках.

Примеры моделей JEOL для нанотехнологий:

- JEOL JEM-F200.

- JEOL JEM-1400Flash.

Практические аспекты работы:

Подготовка образцов: ультратонкие срезы (<100 нм), ионное и электрополирование, FIB-подготовка для site-specific анализа.

Оптимизация параметров: выбор ускоряющего напряжения, настройка контраста, оптимизация тока зонда.

Преимущества ПЭМ JEOL:

- Рекордное разрешение (до атомного уровня).
- Гибкость(режимы TEM, STEM, дифракции).
- Интеграция с аналитикой (EDS, EELS).
- Автоматизация.

Производители электронных микроскопов

JEOL (Япония)

Лидер в производстве ПЭМ и СЭМ (модели JEM-ARM300F, JEOL JEM-F200, JSM-IT810)

Thermo Fisher Scientific (США)

Серия Thermo Scientific (например,Talos)

Hitachi (Япония)

SU9000 (сверхвысокое разрешение).

Carl Zeiss (Германия)

Sigma и Merlin, GeminiSEM, Crossbeam для наноисследований. 

Вы можете купить электронный микроскоп в Москве в нашей компании по наименьшей цене