Микроскопы атомно-силовые

Розничная цена без НДС Оптовая цена без НДС Срок поставки
по запросу по запросу   под заказ

Микроскоп атомно-силовой Brisk сканирующий зондовый

LM61786
Микроскоп атомно-силовой Brisk сканирующий зондовый Микроскоп атомно-силовой Brisk сканирующий зондовый

Микроскоп атомно-силовой Brisk Ara Research Co, сканирующий зондовый

Атомно-силовая микроскопия (АСМ) - это метод исследований объектов в нанодиапазоне, за пределами разрешения оптической микроскопии, в том числе позволяющий получать помимо топографии поверхности дополнительную полезную информацию, характеризующую исследуемый образец. Атомно-силовой микроскоп (AFM) Brisk способен анализировать разнообразные характеристики образца в наномасштабе, а также выполнять функции наноманипулятора и проводить нанолитографию.

Упругая консоль микронного размера (кантилевер) имеет на конце очень острый зонд «иголку». Острие зонда, характерный размер которого у большинства коммерческих кантилеверов не более 10 нм, подводится на очень близкое к поверхности образца нанометровое расстояние. Когда зонд движется вдоль поверхности образца, Ван-дер-Ваальсовы силы межатомного взаимодействия между кончиком зонда и поверхностью образца меняются, что приводит к вертикальным по оси Z смещениям кантилевера, которые в свою очередь регистрируются оптическим методом. Отраженный от обратной стороны кантилевера луч лазера попадает на четырёх-секционный фотодиод. Отклонения от секций фотодиода соотносятся с вертикальными перемещениями кантилевера, которые в свою очередь отражают топографию поверхности образца.

- Процедура визуализации АСМ Brisk упрощена: управление BRISK интуитивно-понятное, а время формирования изображения сокращено, что делает его удобным в эксплуатации

- Зонд можно быстро и надежно зафиксировать в измерительной головке

- Оптическая навигация позволяет делать выбор области сканирования

- Новейшая электроника: улучшенная работа контроллера за счет использования передовой электроники

- Интерфейс LAN: данные передаются между микроскопом и компьютером по единому сетевому кабелю

- Быстрый подвод зонда к образцу

                                                                   Технические характеристики

Сканер:

XY Сканер:

- Максимальный диапазон сканирования в

плоскости XY 50 мкм

- Разрешение в плоскости XY: 1 нм

Z Сканер:

- Максимальный диапазон сканирования по оси Z: 4 мкм

- Разрешение по оси Z: 0.1 нм

Электроника:

АЦП и ЦАП каналы:

- 4-х канальный АЦП 24 бит

- 4-х канальный ЦАП 24 бит Обработка сигналов

- Zynq-процессор 40 МГц

Встроенные функции:

-100 МБит/с по LAN

Столик образцов:

- Диапазон перемещений в плоскости XY: 15 мм

- Шаг перемещения в плоскости XY 40 нм

- Диапазон перемещения по оси Z: 15 мм

- Шаг перемещения по оси Z: 40 нм

- Функция автоматического подвода кантилевера к поверхности образца (Auto Fast Approach)

Программное обеспечение:

Получение изображений:

-100 Мбит/с в режиме реального времени, совместимость с Windows

- Встроенные оптические смотровые окна для обзора образца и кантилевера

- Автоматическое сохранение полученных изображений в галерее программного обеспечения

- Сканирование выделенной области уже собранного изображения

Работа с изображениями:

- Отдельная программа для обработки изображений, анализа и представления данных

- Возможность экспорта различных данных с полученных изображений

- Совместимость с ОС Windows

Крепление образца:

- Максимальный диаметр образца: 20 мм

- Максимальная толщина образца: ю мм

- Имеется лёгкий магнитный держатель образца

- Возможность подачи напряжения на образец в диапазоне от -10 В до + ю В

Оптическая система навигации:

- Цветное изображение, разрешение 8 Мп

- Увеличение от 60 крат до 600 крат

- Встроенная подсветка с регулятором

Управляющая станция:

- Core i5-72OOU CPU

- 8 Гб DDR4 RAM

- Монитор с диагональю 21 дюйм. 1920 х 1080 пике

Измерительная головка:

- Высокоточный регулируемый микрометр

- Длина волны лазера: 670 нм

- Максимальная мощность лазерного диода 5 мВт

- 4-х секционный фотодиод высокого качества

- Функция дизеринга

- Оптимизированная оптическая схема

Габариты и вес АСМ-модуля:

- 300 мм х 400 мм х 300 мм. 20 кг

Аксессуары:

- Набор для крепления образца

- Подложка для образца

- Различные типы кантилеверов

Опции:

XY Сканер:

- Расширенный диапазон сканирования 100 um

Набор для замены зондов:

- Вакуумный пинцет

Стандартные моды:

Контактная, бесконтактная, динамическая полуконтактная (Tapping) 

Функциональные комплекты:

Fly Kit

- Магнитно-силовая микроскопия (MFM)

- Электростатическая силовая микроскопия (EFM)

- Фазовый контраст

Pro Contact Kit

- Метод латеральных сил (LFM)

- Силовая спектроскопия

- Механическая нанолитография

Experts Kit

- Химическая нанолитография

- Метод Модуляции Силы (FMM)

- Проводящая атомно-силовая микроскопия (C-AFM)

- Микроскопия зонда Кельвина (KPFM)

Вы можете купить микроскоп атомно-силовой Brisk сканирующий зондовый в Москве по наименьшей цене