Микроскопы электронные сканирующие настольные NANOS
| Цена без НДС | Срок поставки | |
|---|---|---|
| по запросу | под заказ |
Микроскоп электронный сканирующий настольный, NANOS
Настольный сканирующий электронный микроскоп Himera NANOS — это недорогой настольный сканирующий электронный микроскоп, который обеспечивает быстрые и высококачественные изображенияСЭМ и встроенный элементный анализ.
Микроскоп подходит для исследований и разработок, образовательных целей и промышленного использования. SEM Himera NANOS хорошо подходит для выполнения рутинного анализа обычных образцов, наравне с напольным СЭМ. Благодаря стабильности, прочной конструкции и небольшому размеру, его можно использовать в любом лабораторном помещении без специальной инфраструктуры.
Возможности СЭМ NANOS:
- Высокопроизводительные детекторы. NANOS оснащен стандартно двумя детекторами: вторичных электронов (SE) и обратно-рассеянных электронов (BSD). Высококачественный BSD — это четырехквадрантный детектор, обеспечивающий изображения с высоким разрешением и передачей информации о контрасте элементов. Детектор SE собирает электроны, испускаемые с поверхности образца, что позволяет получать четкие и высокоточные поверхностно-чувствительные изображения. Полученные изображения передают топографическую информацию и обычно обладают более высоким разрешением за счет меньшего объема взаимодействия луча с образцом. Для элементного анализа установлен энергодисперсионный спектрометр (EDS) детектор кремий-дрейфового типа Silicon Drift Detector (SDD), производства того же бренда, что и сам микроскоп. Это позволяет минимизировать срок производства и поставки и проводить анализ на схожем уровне с Bruker, Oxford Instrument, Edax.
- Интуитивное управление. Пользовательская платформа Discover делает работу с NANOS простой и понятной, требуя минимального обучения. Простота использования делает его подходящим для опер торов любого уровня. NANOS быстро обеспечивает отличные результаты за короткое время.
- Легко заменяемый источник электронов. Источник электронов в NANOS — это вольфрамовая нить, управляемая электромагнитными катушками и электростатическими дефлекторами. При использовании опции «эко»-режима срок службы катода может быть увеличен до нескольких сотен часов при сохранении высокого разрешения изображений. Любой пользователь может заменить источник электронов с помощью специального инструмента, что значительно уменьшает время простоя.
- Легкость обслуживания. Разработанный с учетом легкости обслуживания, NANOS обладает простой системой «подключи и работай», что обеспечивает быструю установку. Съемные панели, модульные компоненты, одна управляющая плата и небольшое количество движущихся частей сводят требования к обслуживанию к минимуму. Большая часть работ по обслуживанию может выполняться пользователем самостоятельно. Особенностью NANOS является отсутствие движущихся частей внутри вакуумной камеры, что исключает риск загрязнения.
- Встроенный элементный анализ. NANOS оснащен интегрированным детектором ЭДС колонна SEM разработана так, чтобы иметь одинаковое оптимальное рабочее расстояние для анализа EDX и высокоразрешающего изображения. Оператор может выбрать анализ ЭДС в точке, линейное сканирование или активировать картирование элементов. Встроенный детектор EDS делает систему независимой от стороннего оборудования и позволяет работать на том же ПК. Также доступна версия NANOS без модуля EDS.
- Картирование элементов (EDS mapping). Элементное картирование отображает все присутствующие в образце элементы и позволяет видеть их в цвете.
Преимущества:
- Высокопроизводительные детекторы вторичных электронов (SE) и четырехквадрантный детектор задних рассеянных электронов (BSE)
- Анализ EDS — точечный анализ, сканирование линий и картирование элементов
- Возможность работы в условиях низкого вакуума, в стандартной комплектации
- Моторизация по осям XY, эвцентрического типа
- Оптимизация работы нити катода
- Напряжение ускорения — 1–20 кВ
- Разрешение менее 8 нм
- Низкие эксплуатационные расходы
Растровый электронный микроскоп Himera Nanos представляет собой современное решение для исследований в области наноматериалов, медицины и других высокотехнологичных областях.
Технические характеристики:
Электронная пушка | Оптимизированный термоэмиссионный источник (вольфрам) |
Ускоряющее напряжение | 1 кВ ~ 20 кВ |
Разрешение | 8 нм |
Разрешение сохраняемых изображений | 4096 х 4096 пикс. (4К) |
Детекторы | вторичных электронов SE |
обратно-рассеянных электронов BSE | |
энергодисперсионной спектроскопии EDS | |
Столик микроскопа 5 осевой | Моторизованный X≥25 мм, Y≥25 мм, Z≥19 мм, ручная (T:-15~ +15/R:360°) |
Формат изображений | TIFF, JPG, BMP, PNG |
Вакуумный режим | Высокий вакуум, Низкий Вакуум 40 Па |
Система энергодисперсионного микроанализа | Площадь детектора 30 мм2 Разрешение лучше 132 эВ Кремний дрейфовый тип детектора Полностью встроен в управляющее ПО Анализ в точке, анализ по линии, «живое» картирование |
Вы можете купить Микроскоп электронный сканирующий настольный, NANOS в Москве в компании Лабтех по наименьшей цене.





